[发明专利]LED测试装置、系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及LED参数测试领域，尤其涉及一种LED测试装置、系统及方法。

背景技术

为了考察LED在实际使用过程中，环境因素（比如振动）对其性能的影响，需要有相关试验设备来模拟实际使用环境，对LED进行振动可靠性测试，通过分析受试样品的故障原因与失效模式，指导产品的后续设计。

目前通行的LED振动可靠性测试方法是：在同型号、同批次的LED产品中，抽取一定数量的样品，在试验前以及试验过程中测量其性能参数，根据相应的算法推算出该型号、该批次的LED预期性能。在振动可靠性测试过程中，当需要测量LED的性能参数时，则停止振动，并将支架上的LED样品依次拆下，逐个放置于积分球内进行测量，测量完毕后再将LED样品重新安装到支架上，继续后续试验。其存在的问题是：

1) 在整个可靠性测试过程中，需要反复安装、拆卸LED样品，增加了大量的人力和时间成本；

2) 在反复安装与拆卸的过程中，存在造成LED样品性能改变的不稳定因素而影响最终测试结果；

3) 在整个试验过程中，当需要测量LED样品的性能参数时，需要中断振动应力，这种发生在试验过程中的应力条件改变对整个试验结果的影响不可预知。

发明内容

本发明实施例所要解决的一个技术问题在于，提供一种实现在线实时检测LED振动可靠性的LED测试装置。

本发明实施例所要解决的另一个技术问题在于，提供一种实现在线实时检测LED振动可靠性的LED测试系统。

本发明实施例所要解决的再一个技术问题在于，提供一种实现在线实时检测LED振动可靠性的LED测试方法。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提出了一种LED测试装置，包括连接并为待测LED试件供电的供电单元，LED测试装置还包括：用于承载LED试件的承载体；用于带动承载体及其上的LED试件振动的振动发生器；底面设有通孔的遮光罩，所述承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件；以及安装于遮光罩上并采集遮光罩内的漫反射光线以对LED试件的光学参数进行测量的测光仪。

进一步地，测光仪包括取光单元和通过光纤连接于取光单元的测光单元，遮光罩的顶壁上设有取光单元，遮光罩内还设有用于遮挡由LED试件直射向取光单元的直射光的遮光板。

进一步地，所述遮光罩由一支架支撑，且支架的高度与振动发生器的高度相匹配，以使遮光罩罩住所述LED试件。

进一步地，所述承载体刚性固定在振动发生器的振动台面上。

进一步地，所述振动发生器为振动频率、振动幅度及振动时间受控可调的电动式、电磁式、机械式、液压式或气动式的振动发生器。

进一步地，所述遮光罩为积分球、温控箱或湿热试验箱。

相应地，本发明实施例还提供了一种LED测试系统，其包括：如上所述的LED测试装置；以及连接于并控制所述振动发生器、测光仪及供电单元协调工作的控制器。

此外，本发明实施例还提供了一种LED测试方法，所述方法包括：准备步骤：装配LED测试系统，并设置本次测试的振动参数；振动步骤：根据所述振动参数带动LED试件振动；及取光测量步骤：实时采集LED试件对应的漫反射光线并对LED试件的光学参数进行测量。

进一步地，所述准备步骤还包括界限设置子步骤：设置本次测试的衰减界限参数。

进一步地，所述取光测量步骤之后还包括判断步骤：判断当前被测LED试件是否超出所设衰减界限参数，若是则结束本次测试。

本发明实施例的有益效果是：通过遮光罩底面设置通孔，承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件的技术手段，从而实现了在线实时检测LED试件的光、色及电等性能参数，避免因应力条件发生改变以及反复安装、拆卸LED试件而引入的测试误差。

附图说明

图1是本发明实施例的LED测试装置的结构示意图。

图2是图1所示的LED测试装置的承载体的俯视图。

图3是本发明实施例的LED测试方法的流程示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合，下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。

请参考图1~图2，本发明实施例提供了一种LED测试装置，所述LED测试装置包括供电单元10、振动发生器20、承载体30、遮光罩40及测光仪50。