[发明专利]导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及材料失效，用于我国导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的失效研究，属于失效分析领域。

背景技术

航天器长寿命、高可靠保障技术是一项综合性很强的系统工程，材料是组成航天器的最基本单元之一，而其性能水平将直接影响到航天器在轨的可靠性和寿命。黑色聚酰亚胺在卫星上广泛使用，现已普遍用于卫星天线背面的消杂光，消除或避免各种杂散光对成像系统和传感器的干扰；同时也可以减小大型天线的热变形，保障天线的外形尺寸稳定，进而使天线的性能得以保证；另外由于其良好的防静电特性，也可以应用在整星多层隔热材料的外表面，以提高航天器的防静电能力。对于保证航天器在空间环境下的温度水平，整星的等电位设计、天线反射面热控设计和光学敏感器及光学成像卫星的热设计有着重要的作用。

航天器工作在空间环境中，太阳发射的各种电磁辐射以及X射线带来辐射效应对导电黑色聚酰亚胺薄膜的损伤不可忽视，紫外辐照也会对导电黑色聚酰亚胺薄膜的损伤也是非常重要的空间环境效应，原子氧对导电黑色聚酰亚胺薄膜剥蚀作用也十分剧烈。上述空间环境因素造成导电黑色聚酰亚胺薄膜性能退化，功能降低甚至失效，影响卫星正常工作，甚至造成卫星任务失败。因此，空间环境是引起导电黑色聚酰亚胺薄膜性能退化及失效的主要因素。因此建立导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法将为研究导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用的物理和化学机理奠定理论基础，同时也为导电黑色聚酰亚胺薄膜的设计生产提供依据。

发明内容

鉴于以上分析，本发明针对导电黑色聚酰亚胺薄膜在空间环境作用下性能退化和失效等问题，提出一种导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下失效分析方法。

本发明的是通过下述技术方案实现的。

首先利用地面环模设备对导电黑色聚酰亚胺薄膜进行其空间环境效应模拟试验，得出其在空间环境作用下的性能退化规律；然后用表面分析技术对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜进行微观分析，研究其微观结构变化规律；其次进行导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析，建立导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用下的宏观性能变化与微观结构变化的对应关系，最后分析其微观结构变化对宏观性能退化的影响，以此为基础判断空间环境作用下导电黑色聚酰亚胺薄膜失效情况。

其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应模拟试验包括原子氧、紫外辐照和带电粒子,如电子、质子辐照空间环试验。

其中所述的原子氧、紫外辐照试验设备包括氧气输入系统、微波等离子体同轴源系统、电控系统及计算机控制系统紫、紫外辐照系统、电磁线圈系统、中性化系统、样品架、样品室及真空系统、光学原位测量；由微波等离子体同轴源产生微波能量，并将微波能量耦合，在微波能量的作用下，氧气被离解为氧等离子体，并在磁场的约束作用下，形成氧等离子体；中性化板加负偏压，加速等离子态中的氧离子，使其获得定向能量，氧离子入射到中性化板上并从中得到电子，复合成中性氧原子。

其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜宏观性能测试与分析根据导电黑色聚酰亚胺薄膜用途和性能，测试导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应作用前后的质量、表面电阻率、半球发射率和太阳吸收比；其中质量测量采用微量天平测量测量导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后质量；表面电阻率采用万用表测量导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后的电阻率；太阳吸收比采用连续辐射试验的情况下进行太阳吸收率原位测量；半球发射率采用材料热发射特性测试仪测试热控涂层红外发射率。

其中所述的导电黑色聚酰亚胺薄膜微观分析采用X射线光电子能谱仪对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜的元素组成、化学态及其分布等微观信息进行分析，采用原子力显微镜对空间环境作用前后的导电黑色聚酰亚胺薄膜的表面结构和表面形貌进行分析，得到导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境效应前后的表面形貌分析、表面成分分析和表面结构分析微观信息。

本发明的优点为：

空间环境是导电黑色聚酰亚胺薄膜性能退化的主要因素，国内还目前没有其失效分析方法。本发明利用表面分析技术开展导电黑色聚酰亚胺薄膜空间环境作用前后的微观结构分析，研究其微观结构变化规律，建立宏观性能退化与微观变化的对应关系，研究微观结构对航天器材料性能的影响，以此为基础判断空间环境作用下导电黑色聚酰亚胺薄膜失效情况。为我国导电黑色聚酰亚胺薄膜的设计生产提供理论依据。

附图说明

图1—RHM空间综合环境因素试验设备结构原理图；