[发明专利]光学式测距装置及搭载该装置的电子设备

权利要求书

1.一种光学式测距装置，其特征在于，具有：

发光元件；

检测由从所述发光元件射出、由测量对象物反射的光形成的光点位置的受光元件；

对从所述受光元件输出的信号进行处理的信号处理部；

由透光性树脂密封所述发光元件而形成的发光侧一次模制件部；

由遮光性树脂一体地密封所述发光侧一次模制件部、所述受光元件及所述信号处理部而形成的二次模制件部；

将从所述发光元件射出的光向所述测量对象物投射的发光透镜；

将由所述测量对象物反射的光会聚的受光透镜；

在包括所述发光透镜的发光侧光学系统与包括所述受光透镜的受光侧光学系统之间进行遮光的遮光壁；

配置于所述受光透镜与所述受光元件之间、且将通过所述受光透镜会聚的光束的光轴方向改变而向所述受光元件引导的第一反射面及第二反射面，

在所述第一反射面与所述第二反射面之间存在单一的介质。

2.如权利要求1所述的光学式测距装置，其特征在于，所述第一反射面将通过所述受光透镜会聚的光束的光轴方向向所述发光透镜侧改变，

所述第二反射面将来自所述第一反射面的光束的光轴方向向所述受光元件侧改变。

3.如权利要求1或2所述的光学式测距装置，其特征在于，还具有反射体，

所述第二反射面构成所述反射体的一面，

所述反射体与所述受光透镜一体地形成。

4.如权利要求1或2所述的光学式测距装置，其特征在于，还具有：保持所述发光透镜及所述受光透镜的透镜架以及与所述透镜架一体地形成的反射体，

所述第二反射面构成所述反射体的一面。

5.如权利要求1或2所述的光学式测距装置，其特征在于，在所述发光透镜及所述受光透镜与所述二次模制件部之间设有包括由遮光性树脂形成的所述遮光壁的反射体，

所述第一反射面及所述第二反射面形成于所述反射体。

6.如权利要求1或2所述的光学式测距装置，其特征在于，具有由透光性树脂密封所述受光元件及所述信号处理部而形成的受光侧一次模制件部，

所述二次模制件部通过由所述遮光性树脂一体地密封所述发光侧一次模制件部与所述受光侧一次模制件部，由所述遮光性树脂一体地密封所述发光侧一次模制件部、所述受光元件及所述信号处理部，

所述第一反射面经由所述基板或所述引线框而与所述受光侧一次模制件部一体地形成。

7.如权利要求6所述的光学式测距装置，其特征在于，还具有反射体，

所述第一反射面构成所述反射体的一面，

所述受光侧一次模制件部与所述反射体相互分离，

在所述受光侧一次模制件部与所述反射体之间形成遮光部。

8.如权利要求7所述的光学式测距装置，其特征在于，所述遮光部是构成所述二次模制件部的所述遮光性树脂的一部分。

9.一种电子设备，其特征在于，该电子设备搭载所述权利要求1至8中任一项所述的光学式测距装置。