[发明专利]滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子测试与屏蔽效能测试技术领域，是滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法。

背景技术

近年来，在电磁兼容领域，对于产品的抗电磁干扰性能要求日益增高，这使得产品的电磁干扰抑制能力要求也更为严格，而决定其抗电磁干扰能力往往取决于设备腔体的屏蔽效能以及对外连线缆的滤波效果，故此，将屏蔽与滤波融为一身的滤波屏蔽一体化组件展现出了非常优异的性能特点，有着非常广泛的市场前景。但是如何验证一个滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能，还没有一套完整的测试，因此迫切需要一种滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法来验证滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能。

发明内容

本发明的目的是提供一种滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法，适用于任何安装在面板、接口、隔离腔体端面上的滤波屏蔽一体化组件。

本发明的技术方案是滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法，它的设备至少包括专用转接板、发射天线、接收天线、前置放大器、接收设备、信号源、同轴线缆和屏蔽室，其特征是：滤波屏蔽一体化组件固定安装在专用转接板上，专用转接板与屏蔽室的蒙板搭接固定，并在搭接处加装金属丝网衬垫；信号源通过同轴线缆依次与前置放大器和发射天线导通，它们设置在屏蔽室外，发射天线顶端与滤波屏蔽一体化组件间的距离为D；接收天线与接收设备通过同轴线缆导通，它们设置在屏蔽室内，接收天线与滤波屏蔽一体化组件间的距离为d；接收天线与发射天线分别从屏蔽室的内、外两侧正对滤波屏蔽一体化组件的中心；屏蔽室单独接大地；这种滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法按照如下的步骤进行：

步骤1，测各部分泄漏点水平极化与垂直极化的射频泄漏量；信号源发出信号，信号通过发射天线将入射波传入滤波屏蔽一体化组件，然后由接收天线接收，并在接收设备得到各部分泄漏点水平极化与垂直极化的射频泄漏量；

步骤2，测天线水平极化和垂直极化的直通值；将专用转接板上的滤波屏蔽一体化组件拆除，其余各设备的位置保持与步骤1中的一致；然后进行测试，信号源发出信号，信号通过发射天线将入射波传入，直接由接收天线接收，并在接收设备得到天线水平极化和垂直极化的直通值；

步骤3，计算屏蔽效能；用步骤2中得到的直通值减去步骤1中的各部分泄漏点的射频泄漏量，水平极化与垂直极化对应相减，得到滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能。

所述的滤波屏蔽一体化组件在本发明中是被测器件，它是同时具有滤波和屏蔽两种功能的一体化组件；滤波屏蔽一体化组件与专用转接板固定，并根据实际情况选择是否加装导电衬垫。

所述的专用转接板是根据屏蔽室的蒙板与滤波屏蔽一体化组件制作的转接板。

所述的接收天线与发射天线类型相同，是环形磁场天线、半波振子天线或微波喇叭天线；环形磁场天线的频段为9KHz至30MHz的磁场频段，半波振子天线的频段为100MHz至1GHz电场频段，微波喇叭天线的频段为1GHz至40GHz平面波频段；发射天线固定在绝缘天线支架上。

所述的前置放大器是能对9KHz至40GHz频段范围信号进行功率放大的放大器。

所述的接收设备是接收机或频谱仪。

所述的信号源是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。

所述的同轴线缆是满足9KHz至40GHz测试的同轴线缆。

所述的屏蔽室是电测屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室。

本发明的特点是使用直通值减去各部分泄漏点的射频泄漏量，水平极化与垂直极化对应相减，得到滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能，该方法精准度高、通用性好。

附图说明

下面将结合实施例对本发明作进一步的说明：

图1是滤波屏蔽一体化组件的屏蔽效能测试方法的装置结构示意图；

图2是9KHz至30MHz磁场频段屏蔽效能测试布局示意图；

图3是9KHz至30MHz频段直通测试布局示意图；

图4是100MHz至1GHz电场频段屏蔽效能测试布局示意图；

图5是100MHz至1GHz电场频段直通测试布局示意图；

图6是1GHz至40GHz平面波频段屏蔽效能测试布局示意图；

图7是1GHz至40GHzz平面波频段直通测试布局示意图。

图中：1、滤波屏蔽一体化组件；2、蒙板；3、专用转接板；4、环形磁场天线；5、半波振子天线；6、微波喇叭天线；7、前置放大器；8、信号源；9、接收设备；10、同轴线缆；11、屏蔽室；D、发射天线与滤波屏蔽一体化组件的距离；d、接收天线与滤波屏蔽一体化组件的距离。