[发明专利]一种与双层膜结构绑定的FPC通用测试方法无效
申请号: | 201210430138.6 | 申请日: | 2012-11-01 |
公开(公告)号: | CN102928767A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 张雯;于永波;初建泰;曲宏强;姜雳震 | 申请(专利权)人: | 烟台正海科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264006 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双层 膜结构 绑定 fpc 通用 测试 方法 | ||
1. 一种与双层膜结构绑定的FPC通用测试方式,其特征在于可以利用生产中必用的测试PCB板,对物料的重复合理利用。
2. 一种与双层膜结构绑定的FPC通用测试方式,其特征在于使用一种通用的Sensor,一片sensor即可替代此类IC芯片所有sensor设计,只要不损坏,无须变更。
3. 一种与双层膜结构绑定的FPC通用测试方式,其特征在于无须普通的探针治具,可以规避探针对产品的损伤,减少FPC损耗。
4. 一种与双层膜结构绑定的FPC通用测试方式,其特征在于使用PCB硬板与FPC压合实现软压硬,压合效果更紧密,利于稳定测试。
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