[发明专利]电阻式存储器结构、其操作方法及制作方法有效

专利信息
申请号: 201210425540.5 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN103682091A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 张鼎张;陈敏甄;徐咏恩;张冠张;简富彦 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G11C13/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电阻 存储器 结构 操作方法 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种电阻式存储器、其操作方法及制作方法。

背景技术

存储器可分为挥发性与非挥发性两种,而电阻式存储器为非挥发性存储器的一种,其可受电流或电压的驱动,而在高阻抗与低阻抗两种性质间转换,以存储数据。在结构上,电阻式存储器主要是由金属-绝缘体-金属三层堆叠而成,所述绝缘体层具有可逆电阻改变特性。在操作时,是对该电阻式存储器施加脉冲电压使其改变电阻状况,以执行写入或擦除数据,再利用小偏压提取电流值来判断阻抗状态以读取数据。

图1是显示一现有的电阻式存储器6,其包含两相间隔且分别为铂(Pt)及氮化钛(TiN)材质的电极层61,及一设于所述电极层间且为氮氧化硅(SiON)材质的电阻切换层62。再对该电阻式存储器6进行耐用性(endurance)实验,即施加交流电使其持续地执行电阻切换,并逐次记录电流值而标示如图2,由于高阻抗与低阻抗互换过程中,是在该电阻切换层62中发生导通途径的形成与阻断,而每次形成的导通途径不固定,因此会产生不规则的电阻转态,即图2中实心点间偏差情形较大,影响该电阻式存储器6的稳定性。

发明内容

本发明的电阻式存储器结构包括一第一电极层、一披覆于该第一电极层的电阻切换层、一披覆于该电阻切换层的扩散金属层,及一披覆于该扩散金属层的第二电极层,其中在该电阻切换层内设置有至少一电极延伸部。

此外,所述电阻式存储器结构还具有一披覆该第一电极层的切换基层部,及一设置于该切换基层部与该扩散金属层之间的多孔隙部,其中该多孔隙部为多孔隙材质,当该扩散金属层受一电场,使该扩散金属层扩散进入该多孔隙部而形成一或多个电极延伸部。

本发明电阻式存储器结构的操作方法包括:施加一形成电压于该第一电极层与第二电极层间,使该扩散金属层受该形成电压牵引扩散进入该电阻切换层,而形成多个电极延伸部;及施加一设定电压于该第一电极层与第二电极层间,使该电阻切换层受该设定电压驱动而改变电阻值。

本发明电阻式存储器结构的制作方法包括:提供一第一电极层;形成一电阻切换层于该第一电极层上;形成一扩散金属层于该电阻切换层上;形成一第二电极层于该扩散金属层上;及形成至少一电极延伸部于该电阻切换层内。

所述电极延伸部在该电阻切换层内形成固定地导通途径,使该电阻切换层在高、低阻抗间切换时,可形成与阻断固定且规则的传导途径,此外,金属对多孔隙材质有较好的扩散性,因此该多孔隙部有助于形成所述电极延伸部。

附图说明

图1为侧视示意图,显示现有的电阻式存储器结构;

图2为现有的电阻式存储器结构的耐用性实验数据图,显示电阻切换次数与对应高电阻状态及低电阻状态的导通电流;

图3为侧视示意图,显示本发明电阻式存储器结构的第一优选实施例;

图4为流程图,显示该第一优选实施例的制作方法;

图5为流程图,显示该第一优选实施例的操作方法;

图6为实验数据图,显示该第一优选实施例在耐用性实验中,其电阻切换次数与对应高电阻状态及低电阻状态的导通电流;

图7为操作特性图,显示该第一优选实施例的导通电流与外加电压的关系;及

图8为侧视示意图,显示本发明电阻式存储器结构的第二优选实施例。

【主要元件符号说明】

10:电阻式存储器结构;

2:第一电极层;

3:电阻切换层;

31:切换基层部;

32:多孔隙部;

33:电极延伸部;

4:扩散金属层;

5:第二电极层。

具体实施方式

现有关本发明的详细内容及技术说明,以实施例来作进一步说明,但应了解的是,这些实施例仅为例示说明的用途,而不应被解释为本发明实施的限制。

参阅图3、5、6,本发明电阻式存储器结构10的第一优选实施例,该电阻式存储器结构10包括:一层状且为可导电材质的第一电极层2、一披覆在该第一电极层2上的电阻切换层3、一披覆在该电阻切换层3上的扩散金属层4,及一披覆在该扩散金属层4上且为可导电材质的第二电极层5。

具体来说,所述电阻式存储器结构10是层状堆叠而成的三明治结构,并且该电阻切换层3与该扩散金属层4是设置在该第一与第二电极层2、5之间。而本实施例的第一电极层2可为氮化钛(TiN)材质,此外该第二电极层5可为铂(Pt)材质。

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