[发明专利]光学式触摸面板装置

说明书

技术领域

本发明涉及在光学上进行位置检测的光学式触摸面板（touch panel）装置。

背景技术

作为以往利用的触摸面板装置之一，有光学式触摸面板装置。在日本特开2002-91683号公报中公开了光学式触摸面板装置的例子。光学式触摸面板装置沿矩形形状的平面部的边在x轴方向和y轴方向上并排有多个发光元件，在与沿平面部的边的发光元件相向的位置并排有多个受光元件。发光元件所发出的光沿平面部的表面前进，由受光元件进行光接收。这样，在平面部上生成发光元件发光、受光元件进行光接收的光路。在使用者将手指或者笔等的遮光物置于平面部上的情况下，光被遮光物遮挡，产生不能进行光接收的受光元件。光学式触摸面板装置通过确定在x轴方向以及y轴方向上并排的受光元件中的、不能进行光接收的受光元件的位置，从而检测在平面部上的遮光物的位置。

光学式触摸面板装置的发光元件和受光元件以一对一相向的方式配置。光学式触摸面板装置进行的位置检测的方式有：为了检测遮光物的位置而扫描平面部的整体的整体扫描方式、和集中在遮光物的周边进行扫描的集中扫描方式。在整体扫描方式中，光学式触摸面板装置在x轴方向和y轴方向上从一端到另一端使多个发光元件依次发光，由与各发光元件一对一相向的受光元件进行光接收。来自一个发光元件的光由一个受光元件进行光接收，由处于一个轴方向上的多个受光元件进行光接收的光的光路平行。位置检测的分辨率由相邻接的发光元件间的间隔决定。

在集中扫描方式中，光学式触摸面板装置由多个受光元件对来自一个发光元件的光进行光接收。由多个受光元件进行光接收的光的光路是以一个发光元件为起点的放射状的光路。因为用于位置检测的光路的密度变高，所以在集中扫描方式中，与整体扫描方式相比，位置检测的分辨率提高。光学式触摸面板装置首先由整体扫描方式粗略地检测遮光物的位置，在检测到遮光物之后，由集中扫描方式扫描遮光物的周边，精度良好地检测遮光物的位置。

虽然在集中扫描方式中用于位置检测的光路的密度在靠近平面部的中央的部分大致均等，但是越靠近平面部的端部偏差越变大。例如，靠近平面部的端部的部分是接近发光元件或者受光元件的部分，光路集中在发光元件或者受光元件的正面，在从发光元件或者受光元件的正面偏离的位置几乎不存在光路。因此，存在在靠近平面部的端部的部分位置检测的分辨率会根据位置而恶化的问题。

此外，在以往的光学式触摸面板装置中还存在遮光不良的问题。以往的光学式触摸面板装置将红外光利用于位置检测，由使用了透射红外光的滤光器的罩（cover）覆盖受光元件。通过设置罩，从而能排除外部光线的影响，能防止灰尘等异物进入到内部。可是，有时会根据光相对于罩的入射角度，使光不透射罩而被罩反射。此时，有时会产生被罩反射的光入射到本来光被遮光物遮光而不应能进行光接收的受光元件的遮光不良。在产生遮光不良的情况下，位置检测会失败。因此，在以往的光学式触摸面板装置中，由于根据位置的位置检测的分辨率的恶化以及遮光不良的产生，进行稳定的位置检测是困难的。

发明内容

本发明是鉴于这样的情况而做成的，其目的在于，提供一种通过限制应进行位置检测的区域从而使稳定的位置检测成为可能的光学式触摸面板装置。

本发明涉及的光学式触摸面板装置具备平面部和在该平面部上生成多个光路的光路生成部，在所述平面部上检测任一个光路被遮光的位置，所述光学式触摸面板装置其特征在于，具备：设定部，在所述平面部上设定包含所述平面部的周端的带状的周缘区域；以及区域限定部，将所述平面部上的区域中的应进行所述位置的检测的区域限定为除了由所述设定部设定的所述周缘区域以外的区域。

本发明涉及的光学式触摸面板装置，其特征在于，所述平面部是矩形形状，所述光路生成部具有分别沿所述平面部的相邻的两条边配置的多个发光元件和沿与所述两条边分别相向的边配置的多个受光元件，所述设定部采用如下结构：设定所述周缘区域，使其包含并行连结所述两条边中的一条边的两端配置的发光元件和与所述一条边相向的边的两端配置的受光元件的线、以及并行连结所述两条边中的另一条边的两端配置的发光元件和与所述另一条边相向的边的两端配置的受光元件的线的外侧的区域。

本发明涉及的光学式触摸面板装置，其特征在于，所述设定部采用如下结构：设定所述周缘区域，使其包含所述平面部上的区域中的、由所述光路生成部生成的光路间的距离为规定距离以上的区域。