[发明专利]触碰点侦测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触碰点侦测方法，特别是涉及一种适用于投射电容式触控板的触碰点侦测方法。

背景技术

目前移动电子装置的主流，例如智能手机或平板计算机等，均舍弃传统的键盘鼠标装置而改以触控面板作为标准的输入和输出的接口，以顺应电子装置的微小化趋势。通过触控面板，移动电子装置提供使用者借由手指在触控面板上的触碰或滑动来执行触控操作。

而随着触控及硬件技术的日新月异，触控操作也愈来愈人性化，许多触控操作方式也愈来愈细腻，因此对于触控轨迹的分辨率要求也愈来愈高，否则便容易发生误判或者是描绘出的触控轨迹不如预期。

当前的投射电容式触控面板已经可以支持多点触碰（multi-touch）的操作。但一般人在触控面板上操作时，往往不经意地会将手掌碰触到触控面板而造成大范围触碰的情况。此时，触控面板容易将多点触碰的情况误判为大范围触碰，或者是将大范围触碰误判为多点触碰，因而造成触控操作的不顺畅甚至操作错误。

因此，现有技术具有无法准确判断多点触碰和大范围触碰点的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种触碰点侦测方法，适用于投射电容式触控板，本方法包含：扫描触碰范围的电容值分布，触碰范围包含边缘区域与中央区域；计算电容值分布在x轴或y轴方向上的一阶导数；取得边缘区域中，一阶导数的最大值M1与最小值M2，M1与M2分别取绝对值后的最大值为M_max，最小值为M_min；取得中央区域中，一阶导数的最大值P1与最小值P2；计算（P1-P2）与M_max两者的比值的绝对值n；当n小于0.1或大于0.67时，判断为大面积触碰点，而以M_min所对应的坐标作为大面积触碰时的触碰点的坐标。

此外，当n介于0.1至0.67的范围中时，判断为多点触碰，而以触碰范围的坐标点计算出多点触碰时的多个触碰点的坐标。

通过前述方法，本发明可判断投射电容式触控板受到大面积触碰时（例如手掌压在触控面板上）的情况；此外，还可进一步识别多点触碰（例如多指并排于触控面板上）的情况，进而提高使用者触控操作的流畅度以及减少触控操作错误的机率。

附图说明

图1为本发明的触碰点侦测方法流程图；

图2为投射电容式触控面板示意图；

图3为大面积触碰时，电容值分布于x轴方向上的一阶导数分布示意图；

图4为多点触碰时，电容值分布于x轴方向上的一阶导数分布示意图。

附图标记

10：投射电容式触控面板

11：x轴方向扫描线

12：y轴方向扫描线

19：触碰范围

20：基准线

21、25：位于边缘区域的一阶导数

22、23、24：位于中央区域的一阶导数

30：基准线

31、35：位于边缘区域的一阶导数

32、33、34：位于中央区域的一阶导数

具体实施方式

请参照图1，为本发明的触碰点侦测方法流程图，包含下列步骤：

步骤S01：扫描一触碰范围的电容值分布。

请参照图2，为投射电容式触控面板示意图。投射电容式触控面板10具有x轴方向扫描线11与y轴方向扫描线12，每一x轴方向扫描线11与其相邻y轴方向扫描线12之间在施加电压之后将形成一电容，且每隔一预定周期便会扫描电容值有无发生变化。当有外物或手指碰触了投射电容式触控面板10，便会造成一触碰范围19内的电容值发生变化。由于每一条x轴扫描线11与y轴扫描线12分别代表x坐标与y坐标，因而可通过各种现有的算法计算出触碰点的位置。

本步骤主要目的是在侦测触碰范围内各坐标点的电容值分布，其中触碰范围的宽度大于3厘米，此时代表触控面板受到大面积的触碰或者是多根指头的触碰。触碰范围包含边缘区域与中央区域，所述边缘区域指触碰范围中最外围的坐标点所构成的区域，而边缘区域以外的坐标点即构成所谓的中央区域。

步骤S02：计算电容值分布在x轴或y轴方向上的一阶导数。

在侦测到触碰范围内各坐标点的电容值分布后，接着计算电容值分布在x轴或y轴方向上每一坐标点的一阶导数，本步骤计算电容值分布在x轴方向上的一阶导数。