[发明专利]一种固定齿偏差补偿方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及用于全自动生化分析仪承载比色杯的反应盘，尤其涉及一种固定齿偏差的补偿方法及其系统。

背景技术

全自动生化分析仪是根据光电比色原理来测量体液中某种特定化学成分的仪器。由于其测量速度快、准确性高、消耗试剂量小，现已在各级医院、防疫站、计划生育服务站得到广泛使用。但由于反应盘的定位齿机械加工存在固有偏差，例如反应盘转动一个固定齿时，控制步进电机转动的理论步数为N步，但由于机械加工存在误差，导致位置光耦检测到固定齿信号时所转动的步数为M步，从而产生了（Ｎ－Ｍ）步的误差，使反应盘停止定位时存在一定误差，进而影响加样、加试剂及搅拌的位置，一定程度上限制了仪器的性能，降低了其测量效率。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种固定齿偏差补偿方法及其系统，以提高反应盘的定位精度，提高全自动生化分析仪的测量效率。

本发明的技术方案如下：

一种固定齿偏差的补偿方法，其包括以下步骤：

A、扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括：A1、所述全自动生化仪上电后，反应盘控制板扫描所述反应盘的所有齿数与齿宽，并将所述齿数与齿宽记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A1具体的包括：所述反应盘控制板按测试方向匀速旋转进行扫描，每个齿从低电平到高电平，齿计数的位置与所述偏差的位置为从高电平到低电平。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括：

A2、所述基准齿的齿计数为一，剩余齿的齿计数按照离所述基准齿的距离依次加一；所述偏差等于对应齿之齿计数减一乘以齿宽，然后再减去所述全自动生化仪电机步数。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A2具体的包括：将所有齿的偏差记录在所述全自动生化仪的随机存储器内。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述步骤A具体的包括：

A3、启动电机将所述全自动生化仪预计将所述反应盘转到某一齿处；

A4、检测所述某一齿的齿计数，然后按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和确定执行步数；

A5、所述电机减速执行所述执行步数直至停止。

所述的固定齿偏差补偿方法，其中，所述齿宽为齿的宽度与齿缝的宽度。

一种固定齿偏差补偿系统，其包括用于控制电机运行的控制单元，其中，所述固定齿偏差补偿系统还包括用于记录齿数、齿宽与偏差的随机存储器以及用于根据全自动生化仪电机步数与所述偏差执行反应盘转动步数的执行单元，所述随机存储器与所述执行单元均与所述控制单元通信连接。

本发明提供的一种固定齿偏差补偿方法及其系统，采用先扫描反应盘选定一个基准齿，然后根据该基准齿确定每个齿与基准齿的偏差，最后根据全自动生化仪电机步数与所述偏差的和来转动反应盘，消除了定位齿机械加工过程中存在固有偏差的缺陷，提高了反应盘的定位精度，从而使反应盘上的比色杯能准确的到达指定位置，提高了全自动生化分析仪的测量效率。

附图说明

图1为本发明中固定齿偏差补偿方法的流程示意图；

图2为本发明中反应盘转动时的流程结构示意图；

图3为本发明中扫描齿与基准齿之偏差的流程示意图；

图4为本发明中实施例一的具体流程示意图；

图5为本发明中固定齿偏差补偿方法的具体流程示意图；

图6为本发明中固定齿偏差补偿系统的结构示意图。

具体实施方式

本发明提供一种固定齿偏差补偿方法及其系统，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供了一种固定齿偏差的补偿方法，如图1所示的，其包括以下步骤：

步骤101：扫描所述全自动生化仪反应盘的齿数与齿宽并记录，选取所述全自动生化仪反应盘的任意齿为基准齿，以所述基准齿为基准位置计算每个齿与所述基准齿的偏差，按照所述全自动生化仪电机步数与所述偏差的和转动所述反应盘。