[发明专利]基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法有效
| 申请号： | 201210381392.1 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN102865847A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 蔡锐龙;孙艺华 | 申请（专利权）人： | 北京精雕科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102308 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 路径 单元 测量 轮廓 偏差 曲线 补偿 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法，其特征在于：包括如下步骤：
A．选定若干轮廓测量点逐一进行测量，并分别计算各测量点测量数据与基准轮廓数据的偏差；
B．将计算出的各点偏差数据映射到坐标系中，并采用样条曲线将各偏差数据点连接起来，生成一条样条偏差曲线；
C．从样条偏差曲线上获取每个加工点的偏差值；
D．将获取的每个加工点的偏差值补偿到对应的路径点中。
2.根据权利要求1所述的基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法，其特征在于：步骤B中所述样条曲线的任意位置切矢连续。
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