[发明专利]一种用于软件缺陷预测的方法和装置在审
申请号: | 201210376046.4 | 申请日: | 2012-09-29 |
公开(公告)号: | CN103713990A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 彭飞 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 软件 缺陷 预测 方法 装置 | ||
1.一种由计算机实现的用于软件缺陷预测的方法,包括:
根据与软件架构项相关的软件项目管理信息,计算可指示所述软件架构项的复杂度的至少一个度量值;以及
根据所述计算的至少一个度量值,确定影响因子,其中所述影响因子表示所述软件架构项对所述软件架构项所属的软件的质量的影响;以及
根据所确定的影响因子,确定所述软件架构项存在缺陷的可能性。
2.如权利要求1中的任意一个所述的方法,其中,所述影响因子由所述度量值的乘积确定。
3.如权利要求1和2中任意一个所述的方法,其中,所述度量值包括以下至少一个:
参与开发和修改所述软件架构项的开发人员数目;
开发和修改所述软件架构项所花费的时间;以及
开发和修改所述软件架构项所涉及的任务数目。
4.如权利要求1所述的方法,其中,所述软件架构项是软件的任一源文件、构成软件的任一软件模块或软件的任一软件版本。
5.如权利要求1和2中任意一个所述的方法,其中,所述根据所确定的影响因子,确定所述软件架构项存在缺陷的可能性的步骤具体包括:
根据所确定的影响因子,确定所述软件架构项的缺陷密度;以及根据所确定的缺陷密度,确定所述软件架构项存在缺陷的可能性。
6.一种用于软件缺陷预测的装置,包括:
计算模块,用于根据与软件架构项相关的软件项目管理信息,计算可指示所述软件架构项的复杂度的至少一个度量值;以及
缺陷可能性确认模块,用于根据所计算的至少一个度量值,确定影响因子,其中所述影响因子表示所述软件架构项对所述软件架构项所属的软件的质量的影响;以及根据所确定的影响因子,确定所述软件架构项存在缺陷的可能性。
7.如权利要求6中的装置,其中,所述影响因子由所述度量值的乘积确定。
8.如权利要求6和7中任意一个所述的装置,其中,所述度量值包括以下至少一个:
参与开发和修改所述软件架构项的开发人员数目;
开发和修改所述软件架构项所花费的时间;以及
开发和修改所述软件架构项所涉及的任务数目。
9.如权利要求6所述的装置,其中,所述软件架构项是软件的任一源文件、构成软件的任一软件模块或软件的任一软件版本。
10.如权利要求6-8中的任意一个所述的装置,其中,所述缺陷可能性确认模块进一步包括:
缺陷密度确认模块,用于根据所述计算的至少一个度量值,确定所述软件架构项的缺陷密度,从而确定所述软件架构项存在缺陷的可能性。
11.一种用于缺陷预测的设备,包括:
存储器,用于存储可执行指令;以及
处理器,用于根据所存储的可执行指令,执行权利要求1-5中的任意一个所包括的步骤。
12.一种机器可读介质,其上存储有可执行指令,当所述可执行指令被执行时,使得机器执行权利要求1-5中的任意一个所包括的步骤。
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