[发明专利]一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法以及显示面板

说明书

技术领域

本发明属于显示器技术领域，具体涉及一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法以及显示面板。

背景技术

显示器通常作为电子设备与用户之间的接口，其作为信息显示设备将各类电子设备输出的电子情报信号转化成光情报信号，以便用户从视觉上识别此类信息。在显示器领域中，平面显示器一般包括薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD，Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display）、等离子体平板显示器（PDP，Plasma Display Panel）、场发射显示器（FED，Field EmissionDisplay）、有机发光二极管显示器（OLED，Organic Light EmittingDiode）等。其中，TFT-LCD以其大尺寸、高度集成、功能强大、工艺灵活、低成本等优势而广泛应用于电视机、电脑、手机等领域。

在TFT-LCD中，显示面板是主要部件之一，其包括阵列基板（也称为TFT基板）与彩膜基板（也称为CF基板）。所述显示面板的制造工艺一般包括阵列（Array）工艺，液晶成盒（Cell）工艺以及模组（Module）工艺等。

其中，所述阵列工艺用于制作阵列基板及彩膜基板。所述液晶成盒工艺包括成盒前工艺、成盒中工艺以及成盒后工艺。所述成盒前工艺用于分别在制作好的阵列基板和彩膜基板表面形成均匀的取向层；成盒中工艺用于将涂覆有封框胶的阵列基板和形成有隔垫物并注入了液晶的彩膜基板在真空环境下贴合，然后将所述封框胶固化，以形成液晶盒；成盒后工艺用于将所述液晶盒按产品尺寸切割成多个显示面板，并在所述多个显示面板的上下表面分别贴附偏光片。所述模组工艺用于将贴附有偏光片的显示面板分别与驱动电路、印刷电路板、背光源等外部零件组装成显示面板成品。

在上述液晶成盒工艺与模组工艺之间还设置有成盒修复（Cell Test）工艺，以检测完成液晶成盒工艺的显示面板是否合格，并对不合格的显示面板进行修复。在成盒修复工艺过程中发现，当灰尘、有机物、金属等杂质吸附到显示面板内靠近彩膜（colorfilter，彩色滤光片）的区域时，对应于这些区域的亚像素（SubPixel）会透射出比其他正常的亚像素的亮度明亮得多的光，即发生亮点像素瑕疵（Bright Pixel Defect）现象，从而导致所述显示面板产生漏光并严重影响显示面板的品质，因此需要对具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复。

传统工艺中，对所述具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复的工艺一般在液晶成盒工艺之前完成，这是因为在液晶成盒工艺之前，阵列基板与彩膜基板上的元件都裸露在外面，如所述元件上有灰尘、有机物、金属等杂质，可采用激光将所述杂质打掉并在后续的清洗工艺中清洗掉所述杂质残渣，因为一旦完成液晶成盒工艺之后，所述杂质就被封在显示面板中而不易对具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复了。

但是实际生产中，在液晶成盒工艺之前对所述杂质进行清理并不能保证将杂质完全清理干净，或者在液晶成盒工艺过程中也可能会产生杂质，因此均可能造成所述杂质对应区域的亚像素发生亮点像素瑕疵现象。为解决上述问题，现有技术中，有采用激光照射来修复具有亮点像素瑕疵的亚像素的方法，具体技术方案如下：

在申请号为200880102671.1，名称为“修复平板显示器的方法”的中国专利申请所公开的技术方案中，提出使用激光在具有亮点像素瑕疵的滤色器（即彩膜）处或在该滤色器和玻璃（即衬底）之间形成一个间隙，然后使用激光分解与该滤色器相邻的黑色基质（即黑矩阵），并使所述黑色基质向滤色器的瑕疵区域扩散，以修复显示装置的亮点像素瑕疵。

在申请号为200880020731.5，名称为“修复平板显示器的方法”的中国专利申请所公开的技术方案中，提出选择性地使用一定波长范围的激光，使其照射具有亮点像素瑕疵的像素（滤色器及其相邻黑色基质）以使该瑕疵像素变暗，以修复显示装置的亮点像素瑕疵。

上述专利申请文件中的技术方案的相同之处是：均使用激光来消除滤色器（即彩膜）区域的亚像素的亮点像素瑕疵。但采用激光修复所述亮点像素瑕疵时，具有修复速度慢、效率低、设备成本高等缺点，而且随着液晶显示面板的大型化会导致其效率的进一步下降。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在的上述问题，提供一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法、以及采用所述方法进行修复的显示面板。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是：

所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法包括：