[发明专利]一种测量光通信介质的参数的方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201210367276.4 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN103701523A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 李朝晖;马会肖 申请(专利权)人: 华为技术有限公司;暨南大学
主分类号: H04B10/073 分类号: H04B10/073
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 光通信 介质 参数 方法 装置 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信领域,尤其涉及一种测量光通信介质的参数的方法、装置及系统。

背景技术

随着光纤通信系统的不断发展,作为传输介质的光纤,光放大器等光器件,由于速度快,容量大,稳定性好及抗干扰等优点也越来也重要,逐渐成为通信系统的主要传输介质。但是,光纤,光放大器等光器件的传输介质具有色散的特性。色散特性造成了脉冲展宽,引起码间干扰,使误码率提高,降低通信质量,从而制约了高速度,高质量光纤通信网络的发展。因此,色散的准确测量是整个光纤通信系统性能提高的一个重要前提。

在现有技术中,可以通过相移法测量光纤色散。相移法是通过测量不同波长下同一正弦波调制信号的相移得出群时延与波长的关系,进而算出色散系数的一种方法。调制相移法的基本结构如图1所示,电调制信号源产生电信号,将此电信号发送至相位比较器,并将此电信号通过外置调制器将电信号发送至强度调制器;可调谐窄带光源通过耦合器将光载波发送至波长计,计算出波长,并通过耦合器将光载波发送至强度调制器。在强度调制器中将接收到的电信号调制到光载波中,并将载有电信号的光载波通过待测光纤发送至光电二极管接收机,光电二极管接收机将光信号转换为电信号后,再将电信号发送至相位比较器,相位比较器将接收的电调制信号源发送的电信号,与接收的光电二极管接收机发送的电信号进行相位比较,得到相位差。相对群时延计算器根据此相位差计算出相对群时延。色散计算器将相对群时延计算器计算出的群时延与波长计计算出的波长进行线性拟合,得到群时延与波长间的函数关系,通过对此函数对波长求导,进而计算出色散值。

在实现测量光纤色散时,需要获取多个频点的参数测量值,但由于光源的限制,每次扫描仅能获得单个频点的测量参数值,若要得到多个频点的测量参数值,需要多次扫描,降低了测量速度。

发明内容

本发明的实施例提供一种测量光通信介质的参数的方法、装置及系统,用于提高测量速度。

第一方面,本发明实施例提供了一种测量光通信信传输介质的参数的方法,包括:根据电信号及光载波获得多子光信号,所述多子光信号含有至少两个子载波;将所述多子光信号通过待测介质传输至检测装置,以使得所述检测装置通过检测所述多子光信号确定测量参数的值,其中所述多子光信号含有至少两个子载波,以确定至少两个子载波对应频点的所述测量参数的值。

第二方面,本发明实施例提供了一种测量光通信介质的参数的方法,包括:接收待测介质传输的多子光信号产生器获得的多子光信号,所述多子光信号含有至少两个子载波;根据检测算法检测所述多子光信号,确定测量参数的值,其中所述多子光信号含有至少两个子载波,以确定至少两个频点的所述测量参数的值;所述检测算法根据所述多子光信号产生器生成多子光信号的算法确定。

第三方面,本发明实施例提供了一种多子光信号产生器,包括:获得单元,用于根据电信号及光载波获得多子光信号,所述多子光信号含有至少两个子载波;发送单元,用于将所述获得单元获得的所述多子光信号通过待测介质传输至检测装置,以使得所述检测装置通过检测所述多子光信号确定测量参数的值,所述多子光信号含有至少两个子载波,以确定至少两个子载波对应频点的所述测量参数的值。

第四方面,本发明实施例提供了一种检测装置,包括:接收单元,用于接收待测介质传输的多子光信号产生器获得的多子光信号,所述多子光信号含有至少两个子载波;检测单元,用于根据检测算法检测所述接收单元接收的所述多子光信号,确定测量参数的值,其中所述多子光信号含有至少两个子载波,以确定至少两个子频点的所述测量参数的值;所述检测算法根据所述多子光信号产生器生成多子光信号的算法确定。

第五方面,本发明实施例还提供了一种检测装置,包括:接收器,用于接收待测介质传输的多子光信号产生器获得的多子光信号,所述多子光信号含有至少两个子载波;检测处理器,用于根据检测算法检测所述接收单元接收的所述多子光信号,确定测量参数的值,其中所述多子光信号含有至少两个子载波以确定至少两个频点的所述测量参数的值;所述检测算法根据所述多子光信号产生器生成多子光信号的算法确定。

第六方面,本发明实施例提供了一种测量光通信介质的参数的系统,包括:显示装置,待测介质,多子光信号产生器,检测装置;其中,所述多子光信号产生器为上述多子光信号产生器,所述检测装置为上述检测装置。

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