[发明专利]一种交织型四通道ADC的校正方法及装置无效
| 申请号： | 201210361589.9 | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102904572A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 韩连印;金宏志;房东旭 | 申请（专利权）人： | 北京华力创通科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址： | 100094 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 交织 通道 adc 校正 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种交织型四通道ADC的校正方法，其特征在于，包括：
将四片ADC内核采集的数据的偏置都调整到数字域512；
将所述四片ADC内核采集的数据的增益都调整到-1dBFS；
将所述四片ADC内核采集的数据之间的相位差分别调整到∏/2、∏和3∏/2。
2.根据权利要求1所述的交织型四通道ADC的校正方法，其特征在于，在将四片ADC内核采集的数据的偏置调整之前包括：
通过标准SPI接口，完成采样模式的配置。
3.一种交织型四通道ADC的校正装置，其特征在于，包括：
偏置调整模块，用于将四片ADC内核采集的数据的偏置都调整到数字域512；
增益调整模块，用于将所述四片ADC内核采集的数据的增益都调整到-1dBFS；
相位调整模块，用于将所述四片ADC内核采集的数据之间的相位差分别调整到∏/2、∏和3∏/2。
4.根据权利要求3所述的交织型四通道ADC的校正装置，其特征在于，该装置还包括：
参数配置模块，用于通过标准SPI接口，完成采样模式的配置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华力创通科技股份有限公司，未经北京华力创通科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210361589.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种十字形石材干挂配件
- 下一篇：一种过电压保护器
