[发明专利]磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统有效

专利信息
申请号: 201210341758.2 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN102866373A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 刘新;郑海荣;潘艳丽;沈欢;蔡葳蕤 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01R33/58 分类号: G01R33/58
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 温度 成像 测量 矫正 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种磁共振温度成像中温度测量的矫正方法,其特征在于,包括以下步骤:

测量温升;

判断所述测量温升是否结束,否,则获取主磁场漂移信号值,并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值;

根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。

2.根据权利要求1所述磁共振温度成像中温度测量的矫正方法,其特征在于,所述测量温升的步骤为:

扫描成像序列;

通过所述成像序列获得磁共振图像;

根据所述磁共振图像计算得到温升。

3.根据权利要求1或2所述磁共振温度成像中温度测量的矫正方法,其特征在于,在所述根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿的步骤之后包括:

返回到所述测量温升的步骤。

4.根据权利要求3所述磁共振温度成像中温度测量的矫正方法,其特征在于,所述获取主磁场漂移信号值,并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值的步骤为:

发射检测主磁场信号序列,获取初始主磁场漂移信号值和比较主磁场漂移信号值;

通过所述初始主磁场信号值和所述比较主磁场漂移信号值计算主磁场漂移量;

通过所述主磁场漂移量计算补偿电流值。

5.根据权利要求4所述磁共振温度成像中温度测量的矫正方法,其特征在于,所述初始主磁场信号值为温度成像中温度测量开始时的主磁场信号值。

6.一种磁共振温度成像中温度测量的矫正系统,其特征在于,包括温升测量模块、判断模块、主磁场测量模块、处理模块以及补偿线圈;

所述温升测量模块,用于测量温度变化值;

所述判断模块,用于判断测量温度是否结束,否,则通知所述主磁场测量模块;

所述主磁场测量模块,用于测量主磁场漂移信号值;

所述处理模块,用于根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值;

所述补偿线圈,用于根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。

7.根据权利要求6所述磁共振温度成像中温度测量的矫正系统,其特征在于,所述温升测量模块包括:射频线圈、成像单元以及计算单元;

所述射频线圈,用于扫描成像序列;

所述成像单元,用于通过所述成像序列获得磁共振图像;

所述温升计算单元,用于根据所述磁共振图像计算得到温度变化值。

8.根据权利要求6或7所述磁共振温度成像中温度测量的矫正系统,其特征在于,还包括:循环模块,在补偿线圈完成主磁场补偿后循环进入温升测量模块。

9.根据权利要求8所述磁共振温度成像中温度测量的矫正系统,其特征在于,所述主磁场测量模块包括初始测量单元和漂移测量单元;

所述初始测量单元,用于获取初始主磁场漂移信号值;

所述漂移测量单元,用于获取比较主磁场漂移信号值。

10.根据权利要求9所述磁共振温度成像中温度测量的矫正系统,其特征在于,所述处理模块包括主磁场漂移量计算单元和补偿电流值计算单元;

所述主磁场漂移量计算单元,通过所述初始主磁场信号值和所述主磁场漂移信号值计算主磁场漂移量;

所述补偿电流值计算单元,通过所述主磁场漂移量计算补偿电流值。

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