[发明专利]板卡的测试方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种板卡的测试方法及其系统。

背景技术

随着FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)的容量和复杂度越来越大，导致对现场可编程门阵列板卡的逻辑的代码仿真速度越来越慢。仿真做到完全覆盖所有的代码及功能几乎不可能。这样导致FPGA内部难免出现一些不容易发现的bug。特别是当板卡实验室测试没有任何问题，但当板卡工作在实际环境中，或者工作环境特别恶劣情况下，功能出现异常时，工程师没有办法到达现场环境进行错误定位。

参见图1，在现有技术中，传统定位方法使用示波器对FPGA的某些输出管脚进行监测或者使用FPGA开发工具中自带的逻辑分析仪进行对内部寄存器进行采集，而示波器只能对输出的信号进行监测，逻辑分析仪需要JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)接口进行加载测试，在实验室环境中可以使用，但是在实际环境中存在板卡空间或者JTAG线长度以及信号质量的影响，所以逻辑分析仪不能适用所有情况。

另一方面当用户逻辑出现异常时，需要进行调试时，上面情况只能通过编译工具自带的在线逻辑分析仪进行测试，但要求测试的数据量很大时，FPGA内部资源有限不能满足要求，并且当板卡在实际工作环境中，由于受环境以及板卡空间的限制，工程师没有办法在线逻辑分析仪进行调试，工程师难以快速的确定逻辑问题。因此，现有的板卡测试技术难以在实验室测试环境和实际工作环境对FPGA内部逻辑功能进行测试。

综上可知，现有的板卡测试技术在实际使用上，显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

发明内容

针对上述的缺陷，本发明的目的在于提供一种板卡的测试方法及其系统，以实现在线和/或远程对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

为了实现上述目的，本发明提供一种板卡的测试方法，所述方法包括如下步骤：

A、设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

B、根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

C、根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

根据所述的测试方法，所述步骤A包括：

A1、所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

所述步骤B包括：

B1、根据所述需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号采集对应的数据源数据；

B2、将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机；

所述步骤C包括：

C1、所述主机对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述现场可编程门阵列内部逻辑的测试结果信息；或者

所述步骤A包括：

A2、所述板卡的主机设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

所述步骤B包括：

B2、所述主机根据所述模拟测试数据源生成模拟数据，并将所述模拟数据传送到所述现场可编程门阵列内部逻辑；

所述步骤C包括：

C2、所述现场可编程门阵列内部逻辑根据所述模拟数据生成模拟测试数据，并将所述模拟测试数据返回所述主机。

根据所述的测试方法，在所述步骤A1中所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号的采集深度；

在所述步骤B1中根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

在所述步骤A2中通过选择所述主机的控制台选取所述模拟测试源；或者通过选择外部数据源选取所述模拟测试源。

根据所述的测试方法，所述步骤C之后包括：

D、在所述主机上显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑进行测试的结果信息。

根据所述的测试方法，所述主机为所述板卡的远程主机；所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。

为了实现本发明的另一发明目的，本发明还提供了一种板卡的测试系统，所述系统还包括：

设置模块，用于设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

获取模块，用于根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

测试模块，用于根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。