[发明专利]利用传感器应力诊断的工业过程温度变送器有效
申请号: | 201210335726.1 | 申请日: | 2012-09-11 |
公开(公告)号: | CN103512679A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 安东尼·迈克尔·艾尔克 | 申请(专利权)人: | 罗斯蒙德公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00;G01K7/18;G01K7/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 传感器 应力 诊断 工业 过程 温度 变送器 | ||
1.一种用于感测工业过程的温度的温度变送器,包括:
温度传感器,配置用于提供与工业过程的温度有关的传感器输出;
测量电路,与所述温度传感器耦合,配置用于基于所述传感器输出来测量工业过程的温度;
输出电路,配置用于提供与所测量的温度有关的输出;
存储器,配置用于存储与温度传感器经历的过度温度事件有关的温度信息;以及
诊断电路,配置用于基于所存储的过度温度信息对所述温度传感器的条件进行诊断。
2.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述存储器位于所述温度变送器中。
3.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述存储器与所述温度传感器耦合,并且所述温度传感器可从所述变送器移除。
4.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述过度温度信息包括与温度传感器已经经历的过度温度事件的次数有关的信息。
5.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述过度温度信息包括与温度传感器经历过度温度的持续时间有关的信息。
6.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述过度温度信息包括在过度温度事件期间所述温度传感器经历的温度。
7.根据权利要求1所述的温度变送器,其中由所述诊断电路诊断的条件涉及所述温度传感器的剩余寿命。
8.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所诊断的所述温度传感器的条件涉及测量温度中的预期误差。
9.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述测量电路基于所诊断的条件来补偿所测量的温度。
10.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述温度传感器包括电阻温度设备RTD。
11.根据权利要求1所述的温度变送器,其中所述温度传感器包括热电耦。
12.一种对温度变送器执行诊断的方法,所述温度变送器用于感测工业过程的温度,所述方法包括:
使用温度传感器感测工业过程的温度,并且提供与所感测的温度有关的传感器输出;
使用测量电路、基于所述传感器输出来测量所述工业过程的温度;
提供与所测量的温度有关的输出;
将过度温度信息存储在存储器中,所述过度温度信息与温度传感器经历的过度温度事件有关;以及
基于所存储的过度温度信息来诊断所述温度传感器的条件。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述存储器位于所述温度变送器中。
14.根据权利要求12所述的方法,其中所述存储器与所述温度传感器耦合,并且所述温度传感器可从所述变送器移除。
15.根据权利要求12所述的方法,其中所述过度温度信息包括与温度传感器已经经历的过度温度事件的次数有关的信息。
16.根据权利要求12所述的方法,其中所述过度温度信息包括与温度传感器经历过度温度的持续时间有关的信息。
17.根据权利要求12所述的方法,其中所述过度温度信息包括在过度温度事件期间所述温度传感器经历的温度。
18.根据权利要求12所述的方法,其中所诊断的所述温度传感器的条件涉及所述温度传感器的剩余寿命。
19.根据权利要求12所述的方法,其中所诊断的所述温度传感器的条件涉及测量温度中的预期误差。
20.根据权利要求12所述的方法,包括基于所述诊断条件来补偿所测量的温度。
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