[发明专利]具有石墨烯晶体管的低噪声放大器有效
申请号: | 201210331572.9 | 申请日: | 2012-09-07 |
公开(公告)号: | CN102868370A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 吕宏鸣;钱鹤;肖柯;吴华强;伍晓明 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H03F1/26 | 分类号: | H03F1/26;H01L29/78 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 石墨 晶体管 低噪声放大器 | ||
1.一种具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,包括以下部分:
石墨烯晶体管,所述石墨烯晶体管的源极与地端相连,栅极与偏置电压相连,漏极与工作电压相连;
连接在所述漏极与所述工作电压之间的第一电感和第一电容,其中所述第一电感与所述第一电容并联;
连接在所述源极与所述地端之间的第二电感和第二电容,其中所述第二电感与所述第二电容并联;
位于所述漏极与所述第一电感和第一电容之间的输出端;以及
位于所述源极与所述第二电感和第二电容之间的输入端,
其中,所述石墨烯晶体管进一步包括:
衬底;
形成在所述衬底之上的过渡层;
形成在所述过渡层之上的金属走线层和层间介质层,所述层间介质层填充在所述金属走线层之间;
形成在所述层间介质层之上的连接线,其中,所述连接线的至少一部分与所述金属走线层相连;
形成在所述层间介质层之上的源极、漏极和栅极,所述源极、漏极和栅极包括形成在所述层间介质层之上的金属接触层,其中,所述源极和漏极分别通过所述金属接触层与所述连接线相连;以及
形成在所述栅极之上的栅极介质层和形成在所述源极、漏极和栅极之上的沟道层,其中,所述沟道层为石墨烯薄膜。
2.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述过渡层为通过热氧化形成的SiO2。
3.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述层间介质层为通过沉积形成的SiO2。
4.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述第一电感、第二电感、第一电容以及第二电容与所述金属走线层同时形成。
5.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述栅极介质层为高介电常数材料Al2O3、HfO2或HfSiON。
6.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述源极、漏极和栅极在同一平面上。
7.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述石墨烯薄膜通过Cu衬底上CVD后化学湿法转移,或者Pt衬底上CVD后电化学法转移形成。
8.如权利要求1所述的具有石墨烯晶体管的低噪声放大器,其特征在于,所述石墨烯晶体管还包括:形成在所述源极和漏极上的欧姆接触。
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