[发明专利]一种内存测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种内存测试装置。

背景技术

在现有的内存制造过程中，厂家对内存产品进行质量测试检验所使用的测试平台一般为台式电脑主板或笔记本电脑主板，其通常具有以下缺点：

这类测试设备并非工业化设备，其使用寿命较短，生产测试设备所投放的费用巨大；主板的内存插座和CPU(Central Processing Unit，中央处理器)及Chipset(芯片组)都在同一面，在测试时进行插拔操作不方便并存在撞件风险；不能同时测试台式电脑内存和笔记本电脑内存，生产效率较低；主板的内存VDD(内存工作电压)和VREF电压(内存基准电压)是不可指定设置，无法对不同特性的内存设定特定的电压图形进行测试，产品测试后的质量达不到预期的效果。

综上可知，现有的内存测试装置在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

发明内容

针对上述的缺陷，本发明的目的在于提供一种内存测试装置，能够在定指内存工作电压和内存基准电压下或在波动内存工作电压值下进行测试内存，并且能够同时测试台式电脑内存和笔记本电脑内存，避免撞件风险，操作方便，提高生产效率，缩减生产成本。

为了实现上述目的，本发明提供一种内存测试装置，包括测试主板、中央处理器、芯片组以及内存插槽，所述中央处理器以及所述芯片组设置于所述测试主板的TOP面，所述内存插槽设置于所述测试主板的BOT面，且所述内存插槽包括至少一台式电脑内存插槽和至少一笔记本电脑内存插槽，所述台式电脑内存插槽和所述笔记本电脑内存插槽具有相同的外接电源，此外接电源具有可提供定指内存工作电压值和内存基准电压值或可提供波动内存工作电压值的特性。

根据本发明的内存测试装置，所述测试主板上设有BIOS芯片、嵌入式控制器、输入/输出芯片以及调压芯片；

所述BIOS芯片用于将在BIOS中预设的内存工作电压以及内存基准电压发送给所述嵌入式控制器，所述嵌入式控制器用于通过系统管理总线及输入/输出芯片控制所述调压芯片对内存工作电压以及内存基准电压进行调整；

该预设的内存工作电压为波动的电压或者固定电压。

根据本发明的内存测试装置，所述调压芯片包括用于对所述内存工作电压进行调整的第一调压芯片以及用于对所述内存基准电压进行调整的第二调压芯片。

根据本发明的内存测试装置，所述测试主板上还设有用于产生内存工作电压的电压发生器，所述嵌入式控制器通过所述输入/输出芯片输出内存工作电压控制信号，所述输入/输出芯片通过系统管理总线将所述内存工作电压控制信号发送给所述第一调压芯片，所述第一调压芯片输出相应控制信号调整电压发生器，所述电压发生器产生相应的内存工作电压。

根据本发明的内存测试装置，所述第一调压芯片为F72262芯片，所述电压发生器为STL6278芯片。

根据本发明的内存测试装置，所述嵌入式控制器通过所述输入/输出芯片输出内存基准电压控制信号，所述输入/输出芯片通过系统管理总线将所述内存基准电压控制信号发送给所述第二调压芯片，所述第二调压芯片输出相应控制信号控制比较器产生内存基准电压。

根据本发明的内存测试装置，所述第二调压芯片为ISL90727芯片，所述比较器为LM3358芯片。

根据本发明的内存测试装置，所述主板上还包括相互连接的PCH芯片和内存控制器，所述PCH芯片通过所述输入/输出芯片组与所述嵌入式控制器连接，所述内存控制器通过不同的通道与台式电脑内存插槽和笔记本电脑内存插槽分别连接。

根据本发明的内存测试装置，所述内存插槽的针脚采用U型结构，且所述针脚采用电镀金工艺，其镀金层厚度在1微米，镀金层硬度在400努普。

本发明通过将中央处理器以及芯片组设置于测试主板的TOP面，将内存插槽设置于测试主板的BOT面，从而在内存条测试时能够方便插拔操作同时能够减少撞件风险；内存插槽包括至少一台式电脑内存插槽和至少一笔记本电脑内存插槽，所述台式电脑内存插槽和所述笔记本电脑内存插槽具有相同的外接电源，此外接电源具有可提供定指内存工作电压值和内存基准电压值或可提供波动内存工作电压值的特性。从而主板上可并行插入台式电脑内存和笔记本电脑内存同时进行测试，在测试内存时提高效率，其本发明提供专用的内存测试设备，使用寿命长，降低内存生产成本。借此，本发明能够同时测试台式电脑内存和笔记本电脑内存，避免撞件风险，操作方便，提高生产效率，缩减生产成本，能在定指内存工作电压和内存基准电压下或在波动内存工作电压值下进行测试内存。