[发明专利]一种内存测试装置

权利要求书

1.一种内存测试装置，包括测试主板、中央处理器、芯片组以及内存插槽，其特征在于，所述中央处理器以及所述芯片组设置于所述测试主板的TOP面，所述内存插槽设置于所述测试主板的BOT面，且所述内存插槽包括至少一台式电脑内存插槽和至少一笔记本电脑内存插槽，所述台式电脑内存插槽和所述笔记本电脑内存插槽具有相同的外接电源。

2.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述测试主板上设有BIOS芯片、嵌入式控制器、输入/输出芯片以及调压芯片；

所述BIOS芯片用于将在BIOS中预设的内存工作电压以及内存基准电压发送给所述嵌入式控制器，所述嵌入式控制器用于通过系统管理总线及输入/输出芯片控制所述调压芯片对内存工作电压以及内存基准电压进行调整；

该预设的内存工作电压为波动的电压或者固定电压。

3.根据权利要求2所述的内存测试装置，其特征在于，所述调压芯片包括用于对所述内存工作电压进行调整的第一调压芯片以及用于对所述内存基准电压进行调整的第二调压芯片。

4.根据权利要求3所述的内存测试装置，其特征在于，所述测试主板上还设有用于产生内存工作电压的电压发生器，所述嵌入式控制器通过所述输入/输出芯片输出内存工作电压控制信号，所述输入/输出芯片通过系统管理总线将所述内存工作电压控制信号发送给所述第一调压芯片，所述第一调压芯片输出相应控制信号调整电压发生器，所述电压发生器产生相应的内存工作电压。

5.根据权利要求4所述的，内存测试装置，其特征在于，所述第一调压芯片为F72262芯片，所述电压发生器为STL6278芯片。

6.根据权利要求3所述的内存测试装置，其特征在于，所述嵌入式控制器通过所述输入/输出芯片输出内存基准电压控制信号，所述输入/输出芯片通过系统管理总线将所述内存基准电压控制信号发送给所述第二调压芯片，所述第二调压芯片输出相应控制信号控制比较器产生内存基准电压。

7.根据权利要求6所述的内存测试装置，其特征在于，所述第二调压芯片为ISL90727芯片，所述比较器为LM3358芯片。

8.根据权利要求2所述的内存测试装置，其特征在于，所述主板上还包括相互连接的PCH芯片和内存控制器，所述PCH芯片通过所述输入/输出芯片组与所述嵌入式控制器连接，所述内存控制器通过不同的通道与台式电脑内存插槽和笔记本电脑内存插槽分别连接。

9.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述内存插槽的针脚采用U型结构，且所述针脚采用电镀金工艺，其镀金层厚度在1微米，镀金层硬度在400努普。