[发明专利]一种检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种检测方法和装置。

背景技术

随着半导体工艺的不断进步，FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）芯片线宽越来越细，容量越来越大，失效率也越来越高，所以需要对FPGA进行检测，以便及时发现失效的FPGA芯片。

FPGA主要资源模块包括：Block RAM（Block Random Access Memory，随机读写存储器块）资源模块、Distributed RAM（Distributed Random Access Memory，分布式随机读写存储器）资源模块、CLB（Configurable Logic Block，可配置逻辑块）资源模块、DSP（Digital Signal Processing，数字信号处理器）资源模块、PLL（Phase-Locked Loop，锁相环）资源模块和DCM（Digital Clock Manager，数字时钟管理器）资源模块，所以对FPGA芯片的检测也主要是对上述资源模块的检测，但是由于实际需要使用的功能的不同，每次对FPGA芯片布局布线时所使用的FPGA资源模块也具有不确定性，所以使得对FPGA各种资源模块的全覆盖测试十分困难。尤其是对CLB资源模块的检测，现有技术中需要加载至少几十个配置文件来完成对CLB资源模块的全覆盖检测，测试效率低，难以达到产量化。

发明内容

为了提高对FPGA芯片的测试效率，本发明实施例提供了一种检测方法和装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种检测方法，所述方法包括：现场可编程门阵列FPGA加载第一配置文件，根据所述第一配置文件对随机读写存储器RAM资源模块和可配置逻辑块CLB资源模块的第一部分分别进行测试，得到所述RAM资源模块的测试结果和所述CLB资源模块的第一部分的测试结果；所述FPGA加载第二配置文件，根据所述第二配置文件对所述CLB资源模块的第二部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第二部分的测试结果。

在第一方面的第一种可能的实施方式中，所述FPGA根据所述第一配置文件对RAM资源模块进行测试，得到所述RAM资源模块的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将随机读写存储器块Block RAM资源模块和分布式随机读写存储器Distributed RAM资源模块例化成多个预设宽度和预设深度的双端口RAM，将所述例化得到的所述多个双端口RAM作为第一测试模块，并对所述第一测试模块进行测试得到所述RAM资源模块的测试结果。

结合第一方面，或是在第一方面的第一种可能的实施方式的第二种可能的实施方式中，所述FPGA根据所述第一配置文件对CLB资源模块的第一部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第一部分的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将CLB资源模块的第一部分配置成被测试模块，其中，所述第一部分包括最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之间所有Slice，所述被测试模块中的每个Slice中的触发器和查找表LUT串联，所述LUT被配置成反向器，所述触发器被配置成带异步清零端的D触发器，并将除所述最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之间的Slice配置成测试向量产生模块和测试结果分析模块，并通过所述测试向量产生模块产生测试向量，将所述测试向量输入到所述被测试模块中进行测试，所述测试结果分析模块获取所述被测模块的测试结果，得到所述CLB资源模块的第一部分的测试结果。

结合第一方面，或是在第一方面的第一种可能的实施方式，或是在第一方面的第一种可能的实施方式的第二种可能的实施方式的第三种可能实施方式中，所述FPGA根据所述第二配置文件对所述CLB资源模块的第二部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第二部分的测试结果，包括：