[发明专利]一种检测方法和装置

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：

现场可编程门阵列FPGA加载第一配置文件，根据所述第一配置文件对随机读写存储器RAM资源模块和可配置逻辑块CLB资源模块的第一部分分别进行测试，得到所述RAM资源模块的测试结果和所述CLB资源模块的第一部分的测试结果；

所述FPGA加载第二配置文件，根据所述第二配置文件对所述CLB资源模块的第二部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第二部分的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述FPGA根据所述第一配置文件对RAM资源模块进行测试，得到所述RAM资源模块的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将随机读写存储器块Block RAM资源模块和分布式随机读写存储器Distributed RAM资源模块例化成多个预设宽度和预设深度的双端口RAM，将所述例化得到的所述多个双端口RAM作为第一测试模块，并对所述第一测试模块进行测试得到所述RAM资源模块的测试结果。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述FPGA根据所述第一配置文件对CLB资源模块的第一部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第一部分的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将CLB资源模块的第一部分配置成被测试模块，其中，所述第一部分包括最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之间所有Slice，所述被测试模块中的每个Slice中的触发器和查找表LUT串联，所述LUT被配置成反向器，所述触发器被配置成带异步清零端的D触发器，并将除所述最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之间的Slice配置成测试向量产生模块和测试结果分析模块，并通过所述测试向量产生模块产生测试向量，将所述测试向量输入到所述被测试模块中进行测试，所述测试结果分析模块获取所述被测模块的测试结果，得到所述CLB资源模块的第一部分的测试结果。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述FPGA根据所述第二配置文件对所述CLB资源模块的第二部分进行测试，得到所述CLB资源模块的第二部分的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第二配置文件将所述CLB资源模块中的第二部分配置成被测试模块，其中，所述第二部分包括Slice_X0Y0到Slice_Xmax-1Ymax之间所有Slice，所述被测试模块中的每个Slice中的触发器和LUT串联，所述LUT被配置成反向器，所述触发器被配置成带异步清零端的D触发器，并将最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax配置成测试向量产生模块和测试结果分析模块，并通过所述测试向量产生模块产生测试向量，将所述测试向量输入到所述被测试模块中进行测试，所述测试结果分析模块获取所述被测模块的测试结果，得到所述CLB资源模块的第二部分的测试结果。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述FPGA加载第一配置文件之后，还包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件对数字信号处理器DSP资源模块，和/或，锁相环PLL资源模块和数字时钟管理器DCM资源模块分别进行测试，得到所述DSP资源模块的测试结果，和/或，所述PLL资源模块和所述DCM资源模块的测试结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述FPGA根据所述第一配置文件对DSP资源模块进行测试，得到所述DSP资源模块的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将DSP资源模块例化成多个将乘法器，将所述例化得到的所述多个乘法器作为第二测试模块，并对所述第二测试模块进行测试得到所述DSP资源模块的测试结果。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述FPGA根据所述第一配置文件对PLL资源模块和DCM资源模块进行测试，得到所述PLL资源模块和所述DCM资源模块的测试结果，包括：

所述FPGA根据所述第一配置文件将PLL资源模块中的所有PLL和DCM资源模块中的所有DCM按照一维阵列串联起来，得到第三测试模块，并对所述第三测试模块进行测试得到所述PLL资源模块和所述DCM资源模块的测试结果。