[发明专利]用于包络检测的设备和方法有效
申请号: | 201210286851.8 | 申请日: | 2012-08-13 |
公开(公告)号: | CN103036825B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 权义根;金尚骏 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H04L25/03 | 分类号: | H04L25/03;H04L27/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 包络 检测 设备 方法 | ||
1.一种用于包络检测的设备,所述设备包括:
控制器,被配置为在从调制信号采样的两个相邻信号之间执行平方和运算,来从调制信号消去载波分量;
包络检测器,被配置为检测消去了载波分量的调制信号的包络,
采样单元,被配置为对调制信号采样,以使采样的两个相邻信号之间的采样时间间隔满足(1/2+n)×(π/ω),其中,n对应于整数,ω对应于角频率,
其中,采样的信号对应于来自模拟至数字转换器的从通过与源谐振器的互谐振存储在目标谐振器中的能量的波形采样的信号,
其中,所述设备还包括:
斜率计算器,被配置为计算检测的包络的斜率;
估计器,被配置为估计计算的斜率达到最大值的时间点,来作为源谐振器和目标谐振器之间的互谐振的开始点。
2.如权利要求1所述的设备,其中,控制器包括:
平方处理器,被配置为对采样的两个相邻信号的每个进行平方;
合成器,被配置为合成两个平方后的采样的相邻信号。
3.如权利要求1所述的设备,其中,包络检测器通过对由平方和运算产生的值执行平方根运算,来检测调制信号的包络。
4.如权利要求3所述的设备,其中,由平方和运算产生的值表示调制信号的包络分量的平方。
5.如权利要求1所述的设备,其中,按时间次序从调制信号采样第一采样信号、第二采样信号、第三采样信号和第四采样信号,其中,控制器将第一采样信号和第二采样信号中的每个进行平方并合成,将第三采样信号和第四采样信号中的每个进行平方并合成。
6.如权利要求1所述的设备,其中,按时间次序从调制信号采样第一采样信号、第二采样信号、第三采样信号和第四采样信号,其中,控制器将第一采样信号和第二采样信号中的每个进行平方并合成,将第二采样信号和第三采样信号中的每个进行平方并合成,将第三采样信号和第四采样信号中的每个进行平方并合成。
7.一种用于包络检测的设备,包括:
计算器,被配置为在从调制信号采样的两个相邻信号之间执行平方和运算,来计算调制信号的包络分量的平方,
采样单元,被配置为对调制信号采样,以使采样的两个相邻信号之间的采样时间间隔满足(1/2+n)×(π/ω),其中,n对应于整数,ω对应于角频率,
其中,采样的信号对应于来自模拟至数字转换器的从通过与源谐振器的互谐振存储在目标谐振器中的能量的波形采样的信号,
其中,所述设备还包括:
斜率计算器,被配置计算检测的包络的斜率;
估计器,被配置为估计计算的斜率达到最大值的时间点,来作为源谐振器和目标谐振器之间的互谐振的开始点。
8.如权利要求7所述的设备,其中,计算器通过接连地在采样的两个相邻信号之间执行平方和运算,来与对调制信号采样的采样率相同的速率计算包络分量的平方。
9.一种用于包络检测的方法,包括:
在从调制信号采样的两个相邻信号之间执行平方和运算,来从调制信号消去载波分量;
检测消去了载波分量的调制信号的包络,
对调制信号采样,以使采样的两个相邻信号之间的采样时间间隔满足(1/2+n)×(π/ω),其中,n对应于整数,ω对应于角频率,
其中,所述方法还包括:
计算检测的包络的斜率;
估计计算的斜率达到最大值的时间点,来作为源谐振器和目标谐振器之间的互谐振的开始点。
10.如权利要求9所述的方法,其中,检测的步骤包括:通过对由平方和运算产生的值执行平方根运算,来检测调制信号的包络。
11.如权利要求10所述的方法,其中,平方和运算包括输出作为调制信号的包络分量的平方的值。
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