[发明专利]测试装置及测试方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种显示面板的检测领域，特别是涉及一种用于显示面板的测试装置及测试方法。

【背景技术】

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)已被广泛应用于各种电子产品中，液晶显示面板是液晶显示器的重要组成组件。

液晶显示面板制造商在液晶显示面板制成后，一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品以减少后续制程的浪费。目前，在液晶显示面板的检测中，通常在液晶显示面板的阵列基板上设置测试线(Shorting Bar)来连接液晶显示面板的信号线。由测试线输入测试信号至信号线，以检测信号线是有断路或缺陷，在完成测试后，利用激光将切断所述测试线与信号线的连接。

由于通过上述液晶显示面板的测试线路在检测液晶显示面板之后，需利用激光来切断测试线，因而增加一道激光切割的制程，而不利于液晶显示面板的产能和良率。再者，测试线的设置会占用面板的设置空间。此外，在切断测试线之后，则无法再对显示面板进行测试。

故，有必要提供一种显示面板的测试装置及测试方法，以解决现有技术所存在的问题。

【发明内容】

本发明提供一种显示面板的测试装置及测试方法，以解决现有显示面板的检测问题。

本发明的主要目的在于提供一种测试装置，用于测试显示面板，所述测试装置包括：

测试基板；

至少一连接端子，设置于所述测试基板的一侧，用于连接于所述显示面板的信号线；

测试点，设置于所述测试基板上；以及

连接线，连接于所述连接端子及所述测试点之间。

在本发明的一实施例中，所述测试基板为印刷电路板或软性印刷电路板。

在本发明的一实施例中，所述至少一连接端子为多个连接端子，所述连接端子之间的间距相同于所述信号线之间的间距。

在本发明的一实施例中，每一所述连接端子的宽度大于每一所述信号线的输入端子的宽度。

在本发明的一实施例中，每一所述连接端子的宽度小于300微米。

在本发明的一实施例中，所述测试点包括第一测试点、第二测试点及第三测试点，所述第一测试点是用于测试所述显示面板的红色子像素，所述第二测试点是用于测试所述显示面板的绿色子像素，所述第三测试点是用于测试所述显示面板的蓝色子像素。

在本发明的一实施例中，所述至少一连接端子为一个长条形连接端子，所述连接端子的长度大于所述信号线的排列长度。

在本发明的一实施例中，所述测试基板是用于测试所述显示面板的数据线，所述测试装置还包括另一测试基板，用于测试所述显示面板的栅极线。

本发明的另一目的在于提供一种测试方法，用于测试显示面板，所述测试方法包括：

提供一测试装置，其中所述测试装置包括测试基板、至少一连接端子、测试点及连接线，所述连接端子是设置于所述测试基板的一侧，所述测试点设置于所述测试基板上，所述连接线连接于所述连接端子及所述测试点之间；

接合所述测试装置的所述连接端子于所述显示面板的信号线上；以及

由所述测试装置的所述测试点来输入测试信号至所述显示面板的所述信号线。

在本发明的一实施例中，所述测试装置的所述连接端子是通过异方性导电膜来接合于所述显示面板的信号线。

本发明的测试装置及测试方法可用于测试显示面板的信号线或像素是否正常。通过本发明的测试装置，可不需设置测试线于显示面板的基板上，因而提升基板的利用率。且不需通过激光来切断基板上的测试线，以避免额外的激光切断步骤，而可避免激光切断步骤对液晶显示面板的影响，以确保液晶显示面板的产品良率。再者，通过本发明的测试装置，可对个别的显示面板进行抽样测试或多次测试，以符合显示面板的检测需求或改善显示面板的检测质量。

为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：

【附图说明】

图1为本发明测试装置与显示面板的一实施例的示意图；

图2为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图；

图3为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图；以及

图4为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的另一实施例的示意图。

【具体实施方式】