[发明专利]用于检验处理电子器件的设备、方法和计算机程序产品

权利要求书

1.一种用于检验处理电子器件（19）、尤其是计算机断层造影设备的检测器模块的集成电路的设备（1，1′），包括：

-处理中心（5），所述处理中心在运行中定义测试流程和/或进一步处理来自测试流程的结果数据（ED，ED_a，ED_b），

-与所述处理中心（5）相连接的流程单元（23），该流程单元在运行中在从处理中心（5）接收测试流程的定义（TAD₁，TAD₂）之后独立地执行这些测试流程，并且该流程单元与用于接触所述处理电子器件(19)的接触设备（21）耦合，

-信号发生器（7），所述信号发生器将测试信号(TS)导入处理逻辑器（19），以及

-至少一个触发单元（13，13a，13b），所述触发单元在运行中实时地将通过所述流程单元（23）执行的测试流程的开始与通过所述信号发生器（7）对所述测试信号（TS）的导入相互同步。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述流程单元（23）包括可编程存储单元，尤其是FPGA。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述流程单元（23）与独立于所述处理中心（5）的电源（11）相连接。

4.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述信号发生器（7）被连接到信号输出单元（17）。

5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述信号输出单元（17）包括电磁辐射源，尤其是光源。

6.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述接触设备（21）连接到用于向所述处理电子器件（19）供应运行电流（BS₂）的电源单元（9）。

7.根据权利要求6所述的设备，其中，所述电源单元（9）由所述处理中心（5）控制。

8.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述接触设备（21）容纳在不透光的外壳（3，3a，3b）中。

9.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述处理中心（5）与所述流程单元（23）经由以太网接口（25）相互连接。

10.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述触发单元（13，13a）被构造为，使得该触发单元将测试流程的开始与测试信号（TS）的导入这样相互同步，即测试流程的开始引起测试信号（TS）的导入以及测试信号（TS）的导入引起测试流程的开始。

11.根据上述权利要求中任一项所述的设备（1′），包括多个接触设备（21）。

12.根据上述权利要求中任一项所述的设备（1′），包括多个触发单元（13，13a，13b）。

13.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中，触发单元（13b）被构造为，使得该触发单元将测试流程的开始与测试信号（TS）的导入这样相互同步，即该触发单元或者在测试流程的开始时引起测试信号（TS）的导入或者测试信号（TS）的导入引起测试流程的开始。

14.一种用于检验处理电子器件（19）、尤其是计算机断层造影设备的检测器模块的集成电路的方法，包括以下步骤：

-在处理中心（5）中为所述处理电子器件（19）定义（A）测试流程，

-从所述处理中心（5）接收（B）测试流程的定义并且通过与所述处理中心（5）相连接的流程单元（23）独立地执行这些测试流程，所述流程单元与用于接触所述处理电子器件（19）的接触设备（21）耦合，

-通过信号发生器（7）将测试信号（TS）导入（C）处理逻辑器（19），

-借助触发单元（13，13a，13b）实时地将通过所述流程单元（23）执行的测试流程的开始与通过信号发生器（7）对测试信号（TS）的导入相互同步（D），以及

-在所述处理中心（5）中可选地对来自测试流程的结果数据（ED，ED_a，ED_b）进行进一步处理（E）。

15.一种能直接被加载到可编程检验系统的处理器中的计算机程序产品，具有程序代码装置，用于当程序产品在检验系统上实施时执行根据权利要求14所述的方法的所有步骤。