[发明专利]一种制备CdTe多晶薄膜的方法无效
申请号: | 201210265539.0 | 申请日: | 2012-07-27 |
公开(公告)号: | CN102787295A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 刘向鑫;李辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/35;C23C14/58;H01L31/18 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 cdte 多晶 薄膜 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池CdTe多晶薄膜的制备方法。
背景技术
光伏半导体材料有多种,包含单晶硅、多晶硅、非晶硅、GaAs、GaAlAs、InP、CdS、CdTe等。CdTe半导体材料是一种很好的光伏吸收材料,为直接带隙半导体,带隙宽度为1.45eV,与太阳光谱非常匹配。CdTe吸收系数大于5×105/cm,因此,只需要1μm就可以吸收99%以上的可见光(波长小于826nm)。CdTe薄膜太阳能电池的理论效率可以达到29%,实验室小面积CdTe薄膜太阳能电池的效率为17.3%。因此,CdTe薄膜太阳能电池在降低成本、提高转化效率具有很大的潜力。磁控溅射是制备CdTe薄膜的一种常用的方法,已经在250℃的低温制备出14%的高效电池。用磁控溅射生长CdTe多晶薄膜中,可以调节的技术参数多,例如气体的流量、生长气压、基底温度、等离子体浓度、靶基距、磁场分布等,这些均可用于改善CdTe多晶薄膜的质量、从而提高CdTe太阳能电池的转化效率。而且,这种方法设备通用、稳定、制备温度低、薄膜厚度可控性好,因此,磁控溅射是一种制备CdTe多晶薄膜理想的方法。然而,就目前磁控溅射技术而言,通过改变流量、压力、靶基距、基底的温度通常能改变CdTe晶粒的大小、薄膜的均匀性,但是这些参数很难改变CdTe晶粒尺寸不均一、形状不一致,晶粒与晶粒之间的空隙,由于晶粒尺寸不均一、形状不一致,晶粒与晶粒之间的空隙增加了晶界的面积,从而增加了缺陷密度,很难提高CdTe太阳能电池的转化效率。而且,单纯调节这些生长参数很难得到多种形貌的CdTe薄膜,这对于研究CdTe多晶薄膜太阳能电池是很不利的方面。
发明内容
本发明的目的是克服现有的磁控溅射制备CdTe多晶薄膜的缺点,提出一种新的制备方法。本发明通过对基底施加偏压,使晶粒之间结合更加紧密,降低晶界的面积,降低多晶薄膜的表面粗糙度,改善磁控溅射制备CdTe薄膜的结晶质量,获得不同形貌CdTe多晶薄膜,从而有效地提高电池的转化效率。
本发明方法工艺步骤顺序如下:
1、在磁控溅射炉放置基底的位置上放上具有透明导电薄膜的基底,通过导电的固定基底的探针,使基底透明导电薄膜和外加电压设备相连。关闭磁控溅射真空室,对腔室内抽真空,使基底保持在室温下或者对基底进行加热;
2、当背底真空至少到达10-3Pa以下,基底温度到达设定的温度25℃-1100℃,开始在具有透明导电薄膜的基底上溅射CdS多晶薄膜;当CdS厚度到达设定的厚度时,停止CdS的生长,然后把基底转向正对CdTe靶的位置,启动射频电源开始溅射CdTe薄膜,同时打开外接的施加电压的设备对基底施加偏压,直到CdTe的厚度达到预设的厚度;关掉外接施加高压的设备电源,停止对基底施加偏压,同时关闭射频电源,停止CdTe薄膜的生长,停止对基底加热。使生长了CdS和CdTe薄膜的基底随炉冷却。然后取出生长了CdS和CdTe薄膜的基底;
3、对制备的CdTe薄膜进行CdCl2退火处理;
4、在CdCl2处理后的CdTe薄膜上蒸镀导电背电极;导电材料为本专业领域技术人员熟知的材料,如Au、Ni、Mo等等。蒸镀导电材料的方法为本专业领域技术人员熟知的方法,比如:热蒸发、电子束等等。
所述步骤1中,在磁控溅射炉放置基底的位置上放上具有透明导电薄膜的基底,通过导电的固定基底的探针,使基底透明导电薄膜和外加电压设备相连。用万用表测量外加设备与基底导电薄膜之间的导电性,以确保二者能导通;关闭磁控溅射真空室,对腔室内抽真空,同时对基底进行加热。基底的温度为25℃到1100℃。
所述步骤2的操作方法是:当磁控溅射室腔室的背底真空到达10-3Pa以下,开始溅射CdS多晶薄膜。CdS的溅射条件为:基底温度25℃-1100℃,通入高纯Ar气,气体流速5sccm-100sccm,腔室压强0.1Pa-10Pa;当基底上所溅射的CdS厚度为20nm-500nm时,停止CdS薄膜的制备。把基底转向正对CdTe靶的位置,开始溅射CdTe薄膜。CdTe溅射条件为:基底温度25℃-1100℃,通入高纯Ar气,气体流速5sccm-100sccm,腔室压强0.1Pa-10Pa;基底偏压为:+10V~-200V。当基底上所溅射的CdTe厚度达到设定的厚度,0.5μm-10μm时,停止CdTe薄膜的制备,同时停止对基底加热,待基底温度降低到室温时,取出沉积了CdS和CdTe薄膜的基底。
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