[发明专利]DDS检测结构及检测方法

权利要求书

1.一种DDS检测结构，包括：

显示面板，在外围电路区中具有依次排列的若干数据线，每相邻两根数据线包括一根奇数线和一根偶数线；

奇数总电路线，与所述数据线的所有奇数线连接，具有奇数电压输入端；

偶数总电路线，与所述数据线的所有偶数线连接，具有偶数电压输入端；

其特征在于，所述显示面板位于外围电路区的每根数据线上设置有通断开关。

2.如权利要求1所述的DDS检测结构，其特征在于，所述通断开关为薄膜场效应晶体管开关，所述检测结构还包括控制所述薄膜场效应晶体管开关通断的控制线。

3.如权利要求2所述的DDS检测结构，其特征在于，所述控制线与所述显示面板上的栅线同层制作。

4.如权利要求2所述的DDS检测结构，其特征在于，所述检测结构至少设有N根控制线，N大于等于3并且小于等于数据线的总数；每依次排列的N根数据线上的薄膜场效应晶体管开关分别由不同的控制线控制。

5.如权利要求4所述的DDS检测结构，其特征在于，所述检测结构设有3根控制线。

6.一种采用权利要求1-3中任一项所述的DDS检测结构进行DDS检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：向所述奇数电压输入端和偶数电压输入端之一输入高电势，另一个输入低电势；关断所有通断开关，使得显示面板内电路与外围电路的数据线断开；如果有信号从输入低电势的总电路线输出，则说明外围电路异常，发生数据线短路，检测结束；如果没有信号从输入低电势的总电路线输出，则说明外围电路没有问题，转到步骤S2；

S2：向所述奇数电压输入端和偶数电压输入端之一输入高电势，另一个输入低电势；将所述通断开关分为至少三组，分别连通至少一组通断开关，其它通断开关保持关断，如果有信号从输入低电势的总电路线输出，则说明连通的通断开关所在的数据线上发生异常，检测结束；如果没有信号从输入低电势的总电路线输出，则说明连通的通断开关所在的数据线没有问题。

7.如权利要求6所述的DDS检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，分别连通至少一组通断开关具体为：首先依次连通一组通断开关，在所述若干组通断开关都分别连通后输入低电势的总电路线没有输出信号时，再依次连通两组通断开关，在所述若干组通断开关都分别连通后输入低电势的总电路线没有输出信号时，再不断增加连通的通断开关组数，直到有信号从输入低电势的总电路线输出，检测结束。

8.如权利要求6或7所述的DDS检测方法，其特征在于，所述检测结构至少设有N根控制线，N大于等于3并且小于等于数据线的总数；每依次排列的N根数据线上的通断开关分别由不同的控制线控制，所述通断开关根据控制线的不同分为N组。

9.如权利要求8所述的DDS检测方法，其特征在于，所述N为3，所述控制线包括第一控制线、第二控制线和第三控制线。