[发明专利]大视场杂散光PST测试方法及装置

权利要求书

1.一种大视场杂散光PST测试方法，其特征在于：所述大视场杂散光PST测试方法包括以下步骤：

1）采集点目标未经待测光学系统时在入瞳处照度的响应度E_o；

2）安装并调整待测光学系统的位置，采集点目标经过待测光学系统在不同视场位置由杂散光辐照时在待测光学系统的像面处产生的响应度E_d(θ)；

3）根据公式计算待测光学系统在视场外视场角为θ的PST(θ)值。

2.一种基于权利要求1所述的大视场杂散光PST测试方法的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括大动态范围光源、平行光管、洁净室、用于调整待测光学系统不同离轴角的高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统；所述平行光管设置在大动态范围光源的出射光路上；所述EMCCD设置在高负载转台上并与数据采集及处理系统电性相连；所述大动态范围光源与数据采集及处理系统电性相连；所述高负载转台设置在经平行光管后的出射光路上；所述大动态范围光源、平行光管、高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统设置在洁净室内部。

3.根据权利要求2所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述大动态范围光源包括积分球、氙灯、可变光阑以及亮度检测器；所述氙灯设置在积分球内部；所述积分球的内壁上设置有光源入口以及光源出口；所述光源入口处设置有可变光阑；所述光源出口处设置有亮度检测器。

4.根据权利要求2或3所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述大视场杂散光PST测试装置还包括斩光器以及数字锁相放大器；所述斩光器设置在大动态范围光源的出射光路上；所述EMCCD通过数字锁相放大器与斩光器相连；所述数据采集及处理系统分别与斩光器和数字锁相放大器电性相连。

5.根据权利要求4所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述大视场杂散光PST测试装置还包括用于消除和减少待测光学系统的出口反射光造成的环境杂散光对目标源杂散光测试影响的双柱罐；所述EMCCD以及待测光学系统设置在双柱罐内部。

6.根据权利要求5所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述大视场杂散光PST测试装置还包括罩接于待测光学系统并用于抑制杂散光对待测光学系统的光学性能影响的消杂光遮光罩，所述消杂光遮光罩设置在双柱罐内部。

7.根据权利要求6所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述洁净室是不低于100级的洁净室。

8.根据权利要求7所述的大视场杂散光PST测试装置，其特征在于：所述平行光管是离轴平行光管。