[发明专利]晶片内振荡装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种晶片内振荡装置，且特别是有关于一种可调整并设定所产生的振荡输出信号的频率的晶片内振荡装置。

背景技术

在现有的集成电路中，在关于晶片内的振荡电路所产生的振荡输出信号的频率的调整动作，通常是在晶片被封装前就通过晶圆级(Chip Probing,CP)的测试动作来完成。但是，由于晶片的封装过程中，由于晶片接脚上因晶片封装所增加的寄生电阻、寄生电容以及寄生电感效应的影响，晶片在被封装后，其内部的振荡电路所产生的振荡输出信号的频率会产生一定程度的漂移。

值得注意的是，上述的振荡输出信号的频率漂移并没有一个固定的趋势。因此，并没有办法通过简单的补偿方式来对已经完成封装的晶片的内建振荡电路所产生的振荡输出信号的频率进行补偿的动作。也因此，在现有技术中，晶片常会因为封装而造成内建振荡电路所产生的振荡输出信号的频率超出规格，而造成良率下降的现象。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶片内振荡装置，在晶片完成封装后，可有效进行所产生的振荡输出信号的频率进行调整。

本发明提出一种晶片内振荡装置，包括选择器、振荡电路、控制电路以及存储器。选择器依据控制信号选择输出外部输入数据或储存数据以作为选中数据。振荡电路耦接选择器，振荡电路接收选中数据并产生振荡输出信号。其中，振荡电路依据选中数据调整振荡输出信号的频率。控制电路耦接选择器。控制电路接收测试模式启动信号并依据测试模式启动信号产生控制信号。存储器耦接控制器以及选择器，用以提供储存数据。其中，控制电路更产生数据写入命令，并通过数据写入命令将外部输入数据写入至存储器。

在本发明的一实施例中，上述的控制电路器更接收读取命令，并依据读取命令读取存储器中的储存数据。

在本发明的一实施例中，上述的测试模式启动信号指示测试动作被启动时，控制电路产生控制信号使选择器选择输出外部输入数据作为选中数据。

在本发明的一实施例中，其中晶片内振荡装置更包括内部电路。内部电路耦接控制电路以及振荡电路。内部电路依据外部指令以产生测试模式启动信号。内部电路并在当振荡输出信号的频率进入预设规格的频率范围时，使控制电路产生数据写入命令以将外部输入数据写入至存储器。

在本发明的一实施例中，上述的振荡电路包括电流源、第一充电电路、第二充电电路以及输出信号产生电路。电流源提供充电电流。第一充电电路及第二充电电路耦接该电流源，其中，第一充电电路及第二充电电路交替接收充电电流以进行充电动作，并藉以分别产生第一充电电压及第二充电电压。输出信号产生电路耦接第一充电电路以及第二充电电路，接收第一及第二充电电压以及预设电压。输出信号产生电路针对预设电压与第一及第二充电电压进行比较并藉以设定振荡输出信号的逻辑电平。

在本发明的一实施例中，上述的电流源接收并依据选中数据以调整充电电流的电流值。

在本发明的一实施例中，上述的振荡电路更包括参考电流源。参考电流源耦接电流源，并依据参考电压以产生参考电流，以提供至电流源以使电流源依据镜射参考电流以产生充电电流。

在本发明的一实施例中，上述的振荡电路更包括电压产生器。电压产生器耦接参考电流源，用以依据选中数据来产生参考电压。

在本发明的一实施例中，上述的电压产生器更耦接至输出信号产生电路。电压产生器产生预设电压以提供至输出信号产生电路。

在本发明的一实施例中，上述的第一充电电路包括第一开关、第一可变电容以及第二开关。第一开关的第一端耦接至电流源。第一开关受控于开关控制信号以导通或断开。第一可变电容串接在第一开关的第二端以及参考接地电压间。第二开关同样串接在第一开关的第二端以及参考接地电压间。第二开关受控于开关控制信号以导通或断开。其中，第一及第二开关的导通及断开动作相反。

在本发明的一实施例中，上述的第二充电电路包括第三开关、第二可变电容以及第四开关。第三开关的第一端耦接至电流源，第三开关受控于开关控制信号以导通或断开。第二可变电容串接在第三开关的第二端以及参考接地电压间。第四开关与第二可变电容并连，第四开关受控于开关控制信号以导通或断开。其中，第三及第四开关的导通及断开动作相反，且第三及第一开关的导通及断开动作相反。

在本发明的一实施例中，上述的第一可变电容以及第二可变电容的至少其中的一的电容值依据选中数据而改变。

在本发明的一实施例中，上述的输出信号产生电路提供振荡输出信号以作为开关控制信号。