[发明专利]成像光学系统和投射曝光设备无效
| 申请号: | 201210220221.0 | 申请日: | 2008-10-11 |
| 公开(公告)号: | CN102749810A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
| 发明(设计)人: | 汉斯-于尔根.曼;威廉.乌尔里克;斯蒂芬.马伦德;哈特穆特.恩基希 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G02B17/06 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 光学系统 投射 曝光 设备 | ||
1.具有至多为0.5的像方数值孔径的成像光学系统,其特征在于分辨能力好于8nm。
2.具有多个镜(M1至M6)的根据权利要求1所述的成像光学系统(7),该多个镜(M1至M6)将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),所述成像光学系统(7)由下述比来表征:
-所有镜(M1至M6)的反射表面上的成像光(3)的最大入射角
-和所述成像光学系统(7)的像方数值孔径
该比小于33.8°。
3.根据权利要求1所述的成像光学系统,其特征在于,所述成像光学系统(7)包括至少一个遮拦镜(M3至M6),该遮拦镜具有用于使成像光(15)通过的通孔(20)。
4.根据权利要求2所述的成像光学系统,其特征在于,所述成像光学系统(7)包括六个镜(M1至M6),其中至少三个镜优选正好四个镜(M3至M6)被遮挡。
5.根据权利要求1所述的成像光学系统用于利用波长小于10nm的成像光(3)。
6.根据权利要求1所述的成像光学系统,其特征在于分辨能力好于6nm。
7.用于微光刻的投射曝光设备,
-包括根据权利要求1至6的任一所述的成像光学系统(7),
-包括光源(2),
-以及包括照明光学系统(6),用于将照明光(3)引导到所述成像光学系统(7)的物场(4)。
8.根据权利要求7所述的投射曝光设备,其特征在于,用于产生照明光(3)的所述光源(2)配置为具有小于10nm的波长。
9.生产微结构部件的方法,具有下述方法步骤:
-提供掩模母版(10)和晶片(11),
-通过根据权利要求7或权利要求8所述的投射曝光设备,将所述掩模母版(10)上的结构投射到所述晶片(11)的光敏感层上,
-和在所述晶片(11)上产生微结构(B、C)。
10.通过根据权利要求9所述的方法生产的微结构部件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡尔蔡司SMT有限责任公司,未经卡尔蔡司SMT有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210220221.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





