[发明专利]触控检测方法及触控传感器

权利要求书

1.一种触控检测方法，包括：

扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；

根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；

以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置；

加权计算出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）；以及

输出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）。

2.如权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，邻近该像素区边缘的至少一该行及列电极包括由该像素区边缘往内数过去的第2行电极及第2列电极。

3.如权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。

4.如权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）是根据以下算式计算而得，其中ν_x，y是在位置(x,y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目：

xave=Σx=1MΣy=1N(Xmodvx,y)/Σx=1MΣy=1N(kvx,y)]]>

x_mod=1+(-1)=0,k=2(x=1)；

x_mod=M+(M+2)=2M+2,k=2(x=M)；

x_mod=x,k=1，当x≠1且x≠M的情况，

yave=Σx=1MΣy=1N(ymodvx,y)/Σx=1MΣy=1N(kvx,y)]]>

y_mod=1+(-1)=0,k=2(y=1)；

y_mod=N+(N+2)=2N+2,k=2(y=N)；

y_mod=y,k=1，当y≠1且y≠N的情况。