[发明专利]用于确定透射和/或反射特性的测量方法和测量设备

权利要求书

1.一种用于测量尤其是大面积半透明对象（1）的透射和反射特性的光学测量方法，优选地能应用于在制造被表面涂层的衬底时的工艺和质量控制，其中

-利用两个辐射漫射光的照明装置（7，9）和两个光电探测器（4，14）进行所述测量，其方式是或者：

-利用照明装置中的第一照明装置（9）照射对象（1）的第一大面（3），并且在此同时利用第一光电探测器（14）测量总透射和利用第二光电探测器（4）测量在该大面（3）处的反射，和然后

-利用第二照明装置（7）照射对象（1）的与第一大面相对的第二大面（2），并且在此同时利用第二光电探测器（4）测量漫透射和利用第一光电探测器（14）测量在该大面（2）处的反射，

或者顺序地以任意顺序：

-利用照明装置中的第一照明装置（9）照射对象（1）的第一大面（3）并且在此利用第一光电探测器（4）测量总透射，

-利用第二照明装置（7）照射对象（1）的与第一大面相对的第二大面（2）并且在此利用第二光电探测器（4）测量漫透射。

2.根据权利要求1所述的光学测量方法，其中在顺序地测量的情况下附加地

-利用第一照明装置（9）照射对象（1）的第一大面（3）并且在此利用第二光电探测器（4）测量在该大面（3）处的反射，和/或

-利用第二照明装置（7）照射对象（1）的第二大面（2）并且在此利用第一光电探测器（14）测量在该大面（2）处的反射。

3.根据权利要求1或2所述的光学测量方法，其中

-两个照明装置（7，9）和两个光电传感器（4，14）关于彼此固定地定位，

-关于对象（1），在空间上给对象（1）的第一大面（3）分配一个照明装置（9）和一个光电探测器（4）并且在空间上给相对的大面（2）分配另一照明源（7）和第二光电探测器（14），和

-总是交替地接通照明装置（7，9），使得分别仅照射两个大面（2，3）之一。

4.根据前述权利要求之一所述的光学测量方法，其中使用方向敏感的光电探测器（4，14）或者在光电探测器（4，14）之前分别布置方向敏感的光学系统。

5.根据前述权利要求之一所述的光学测量方法，其中作为照明装置（7，9）使用分别具有集成光源（10，11）的乌布利希球。

6.根据前述权利要求之一所述的光学测量方法，其中

-使对象（1）从两个照明装置（7，9）旁边移过，

-在移动方向R上

-通过各自的照射持续时间，

-通过在各个测量之间的时间间隔，和

-对象（1）的移动速度

确定在测量期间所测量的对象区域的空间扩展，和

-周期性地重复测量，以测量多个对象区域。

7.根据前述权利要求之一所述的光学测量方法，其中按照国际标准ASTM D 1003的预设来进行透射特性的测量。

8.根据前述权利要求之一所述的光学测量方法，其中从总透射和漫透射的测量结果中按照函数 HAZE = T_diffus/T_total*100%来确定对象（1）的浑浊度的HAZE值。

9.一种用于确定大面积半透明的对象（1）的透射和反射特性的光学测量设备，所述对象优选是被涂层的衬底形式，所述对象不断地从测量设备旁边移过，所述光学测量设备包括：

-被实施为乌布利希球的第一照明装置（9），从所述第一照明装置穿过光出射口（8）的光对准对象（1）的第一大面（3），

-被实施为乌布利希球的第二照明装置（7），从所述第二照明装置穿过光出射口（6）的光对准对象（1）的与第一大面相对的大面（2），

-方向敏感的光电探测器（4），其探测方向（D4）穿过两个光出射口（6，8）指向位于第二照明装置（7）的内壁处的光阱（15），

-方向敏感的光电探测器（14），其探测方向（D14）穿过两个光出射口（6，8）指向第一照明装置（9）的反射内壁，其中

-探测方向（D4，D14）处于相互不同的测量平面中。