[发明专利]一种电阻阻值测定实验装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子元件参数测量装置，具体为一种电阻阻值测定实验装置。

背景技术

目前，测量电阻的方法主要有伏安法和万用表电阻档测量法。前者需要同时测量电压和电流，由于受到伏特表或安培表内阻的影响，测量精度受限；后者由于受到电池内阻的影响，测量结果也不够准确。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测量结果较为准确的电阻阻值测定实验装置。

为了实现上述目的，本发明采取以下技术方案：

一种电阻阻值测定实验装置，包括可调电阻、被测电阻、第一开关、第二开关、电压表、电源和限流电阻，所述被测电阻与所述第一开关串联连接构成第一支路，所述可调电阻与所述第二开关串联连接构成第二支路；所述第一支路、所述第二支路、所述电压表并联连接；由所述第一支路、所述第二支路、所述电压表并联连接的电路再与所述电源和所述限流电阻串联连接构成闭合电路。

进一步的，所述可调电阻为标准电阻箱。

实际测量分为两步，第一步：闭合所述第一开关、断开所述第二开关，读取所述电压表的读数。第二步：断开所述第一开关、闭合所述第二开关，调节所述可调电阻的阻值，使所述电压表的读数与第一步测量的读数相同。此时所述可调电阻的阻值与所述被测电阻的阻值相等，由此测得所述被测电阻的阻值。

本发明由于采用上述设计，克服了传统电阻测量法的不足，其结构简单，实用方便，有利于电阻值的准确测量。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1是本发明的电路原理图。

图中：1.可调电阻，2.被测电阻，3.第一开关，4.第二开关，5.电压表，6.电源，7.限流电阻。

具体实施方式

如图1所示，本发明的电阻阻值测定实验装置包括可调电阻1、被测电阻2、第一开关3、第二开关4、电压表5、电源6和限流电阻7，所述被测电阻2与第一开关3串联连接构成第一支路，可调电阻1与第二开关4串联连接构成第二支路；所述第一支路、第二支路及电压表5并联连接；由所述第一支路、第二支路及电压表5并联连接的电路再与电源6和限流电阻7串联连接构成闭合电路。

可调电阻1为标准电阻箱。

限流电阻7用于控制电路中电流的大小，防止电路中的电流过大。

具体测量按以下步骤进行：第一步：闭合第一开关3、断开第二开关4，读取电压表5的读数。第二步：断开第一开关3、闭合第二开关4，调节可调电阻1的阻值，使电压表5的读数与第一步测量的读数相同。读取此时可调电阻1的阻值，该阻值即为被测电阻2的阻值。