[发明专利]绝缘子RTV涂层老化的判断方法无效
申请号: | 201210168082.1 | 申请日: | 2012-05-25 |
公开(公告)号: | CN102680559A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 屠幼萍;王景春;丁立健;陈聪慧;张辉;陈静静;王璁 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01N27/60 | 分类号: | G01N27/60 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;余刚 |
地址: | 102206 北京市昌平区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘子 rtv 涂层 老化 判断 方法 | ||
1.一种绝缘子RTV涂层老化的判断方法,其特征在于,包括:
对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片;
对所述试片进行热刺激电流TSC试验;
通过试验得到的TSC曲线计算所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级;
根据所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断所述RTV涂层的老化程度。
2.根据权利要求1所述的判断方法,其特征在于,
对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片之前还包括:
对已知老化程度的RTV涂层进行TSC试验,通过试验得到的TSC曲线计算标准陷阱电荷量和标准陷阱能级,
根据所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断所述RTV涂层的老化程度包括:
将所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级与所述标准陷阱电荷量和标准陷阱能级进行比较;
根据比较结果得出所述试片的老化程度;
利用所述试片的老化程度确定RTV涂层的老化程度。
3.根据权利要求2所述的判断方法,其特征在于,
对已知老化程度的RTV涂层进行TSC试验,通过试验得到的TSC曲线计算标准陷阱电荷量和标准陷阱能级包括:
对多种规格的已知老化程度的RTV涂层分别进行TSC试验;
通过试验得到的TSC曲线分别计算各规格RTV涂层的标准陷阱电荷量的数据和标准陷阱能级的数据;
按照RTV涂层的规格分别保存该规格对应的标准陷阱电荷量和标准陷阱能级,
将所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级与所述标准陷阱电荷量和标准陷阱能级进行比较包括:
根据取样的RTV涂层的规格从保存的标准陷阱电荷量的数据和标准陷阱能级的数据中确定该RTV涂层规格对应的标准陷阱电荷量和标准陷阱能级;
将所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级与取样的RTV涂层的规格对应的标准陷阱电荷量和标准陷阱能级进行比较。
4.根据权利要求2或3所述的判断方法,其特征在于,所述已知老化程度的RTV涂层为未老化的RTV涂层。
5.根据权利要求2或3所述的判断方法,其特征在于,所述已知老化程度的RTV涂层为已经完全老化的RTV涂层。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的判断方法,其特征在于,对绝缘子RTV涂层进行取样得到试片包括:对绝缘子不同位置的RTV涂层进行取样得到试片。
7.根据权利要求6所述的判断方法,其特征在于,对绝缘子不同位置的RTV涂层进行取样得到试片包括:
将所述绝缘子的伞裙沿半径划分为面积相等的扇形区域;
在每个所述扇形区域内的上下表面的一个或多个位置对RTV涂层进行取样得到试片。
8.根据权利要求6所述的判断方法,其特征在于,根据所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级判断所述RTV涂层的老化程度之后还包括:
记录所述试片在绝缘子上的取样位置、所述试片的陷阱电荷量和陷阱能级、以及所述试片取样的绝缘子的运行环境、运行年限。
9.根据权利要求1至3中任一项所述的判断方法,其特征在于,所述进行TSC试验的极化温度范围取50℃至65℃;极化电场强度范围取6kV/mm至8kV/mm;极化时间范围取20min至30min;冷却温度范围取-80℃至-90℃;升温速率范围取2℃/min至3℃/min。
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