[发明专利]应用于集成电路的温度补偿电流基准电路无效
申请号: | 201210154850.8 | 申请日: | 2012-05-17 |
公开(公告)号: | CN102654780A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 谭在超;朱勤为 | 申请(专利权)人: | 无锡硅动力微电子股份有限公司 |
主分类号: | G05F3/26 | 分类号: | G05F3/26 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
地址: | 214028 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 应用于 集成电路 温度 补偿 电流 基准 电路 | ||
1.应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,包括:第六晶体管(MP1)、第七晶体管(MP2)、第八晶体管(MP3)是相互匹配的电流镜,电流镜比例是1:1:1;第九晶体管(MN1)、第十晶体管(MN2)是相互匹配的电流镜,电流镜比例是1:1;第六晶体管(MP1)发射极、第七晶体管(MP2)发射极、第八晶体管(MP3)发射极均接高电平(VDD),第六晶体管(MP1)基极、第七晶体管(MP2)基极和集电极、第八晶体管(MP3)基极相连,第六晶体管(MP1)集电极连接第一晶体管(Q1)集电极,第一晶体管(Q1)基极连接自身集电极,并连接第二晶体管(Q1)基极,第二晶体管(Q2)集电极接第七晶体管(MP2)集电极,第八晶体管(MP3)集电极连接第三晶体管(Q3)集电极和第五晶体管(Q5)基极,第五晶体管(Q5)集电极接高电平(VDD),第五晶体管(Q5)发射极连接第三晶体管(Q3)基极和第四晶体管(Q4)基极,第三晶体管(Q3)基极和发射极之间连接第二电阻(R2),第三晶体管(Q3)发射极连接第九晶体管(MN1)集电极,第九晶体管(MN1)基极与自身集电极相连,并连接第十晶体管(MN2)基极,第十晶体管(MN2)集电极连接第四晶体管(Q4)发射极,第四晶体管(Q4)集电极产生温度补偿基准电流(IREF);第一晶体管(Q1)发射极、第九晶体管(MN1)发射极、第十晶体管(MN2)发射极接地,第二晶体管(Q2)通过第一电阻(R1)接地。
2.如权利要求1所述应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,所述第六晶体管(MP1)、第七晶体管(MP2)、第八晶体管(MP3)采用PMOS晶体管或PNP三极管。
3.如权利要求1所述应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,所述第一晶体管(Q1)和第二晶体管(Q2)是相互匹配的NPN三极管,其中第二晶体管(Q2)的发射极面积是第一晶体管(Q1)的8倍。
4.如权利要求1所述应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,所述第三晶体管(Q3)和第四晶体管(Q4)相互匹配,发射极面积比例是1:1。
5.如权利要求1所述应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,所述第九晶体管(MN1)、第十晶体管(MN2)是相互匹配的电流镜,电流镜比例是1:1,第九晶体管(MN1)、第十晶体管(MN2)采用NMOS晶体管或NPN三极管。
6.如权利要求1所述应用于集成电路的温度补偿电流基准电路,其特征是,所述第一电阻(R1)采用高值多晶电阻,第二电阻(R2)采用P型离子注入电阻。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡硅动力微电子股份有限公司,未经无锡硅动力微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210154850.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。