[发明专利]存储元件和存储装置有效

专利信息
申请号: 201210152766.2 申请日: 2012-05-16
公开(公告)号: CN102800804B 公开(公告)日: 2017-01-18
发明(设计)人: 肥后丰;细见政功;大森广之;别所和宏;浅山徹哉;山根一阳;内田裕行 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;G11C11/16;H01F10/32;B82Y25/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 余刚,吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储 元件 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及存储元件和使用该存储元件的存储装置,其中,存储元件具有多个磁性层,并且使用自旋扭矩磁化反转(spin torque magnetization reversal)来执行记录。

背景技术

伴随包含诸如移动终端、大容量服务器等的各种信息设备的重大发展,也要求形成这些设备的元件(诸如存储器与逻辑电路)提高性能,诸如集成程度的提高、运行速度的提高以及功率消耗的降低。具体地,非易失性半导体存储器的进步一直很突出,对充当大容量文件存储器的闪存存储器的需求日益增长,以代替硬盘驱动器。

此外,考虑到代码存储和工作存储器的扩展,为了替换现在通常使用的NOR闪存存储器、DRAM等,已经致力于铁电随机存取存储器(FeRAM)、磁性随机存取存储器(MRAM)、相变随机存取存储器(PCRAM)等。上述的一些存储器已经被投入实际使用。

具体地,由于使用磁性材料的磁化的方向来存储数据,MRAM能够实施高速和几乎无穷大(1015次以上)的重写操作,并已经用于工业自动化、飞机等的领域。由于其高速操作和高可靠性,MRAM被预期今后将扩展到代码存储和工作存储器;然而,在实践中,仍有诸如能量消耗的降低和容量的增长的问题需要克服。上述问题是由MRAM的记录原理产生的固有问题,即,是由通过配线产生的电流磁场来进行磁化反转的方法所造成的。

作为解决这些问题的一个方法,已研究了未使用电流磁场的记录方法,即,磁化反转方法。尤其是,已经积极地实施对自旋扭矩磁化反转的研究(例如,见日本未审查专利申请公开第2003-17782号和第2008-227388号、美国专利第6256223号、Phys.Rev.B,54,9353(1996)和J.Magn.Mat.,159,L1(1996))。

与MRAM的情况一样,具有自旋扭矩磁化反转的存储元件通常使用磁性隧道结(MTJ)形成。

该结构利用这样的现象,其中,穿过在特定方向固定的磁性层的自旋极化电子,在其进入自由磁性层时,将扭矩(在一些情况下,还被称为自旋扭矩转换)传给另一自由磁性层(其方向不固定),自由磁性层的磁化通过一个等于或超过特定的阈值电流被反转。0/1的重写通过改变电流的极性来实施。

在大约0.1μm尺寸的元件中,用于反转的电流的绝对值为1mA以下。此外,由于电流值与元件体积成比例地减小,所以能够实施比例缩放(scaling)。而且,由于对于MRAM所必需的用于产生电流磁场以进行记录的字线,在这种情况下不是必需的,所以能够有利地简化元件结构。

下文中,使用自旋扭矩磁化反转的MRAM将被称为“自旋极化磁性随机存取存储器(ST-MRAM)”。在某些情况下,自旋扭矩磁化反转也可以被称为自旋注入磁性反转。

发明内容

顺便提及,在MRAM的情况下,除存储元件之外,还设置了写入配线(字线和位线),信息由电流通过写入配线所产生的电流磁场写入(记录)。因此,执行写入所需的足够大的电流能够通过写入配线流动。

另一方面,在ST-MRAM中,自旋扭矩磁化反转由将在存储元件中流动的电流执行,并且存储层的磁化的方向被反转。此外,由于电流在用于写入如上所述的信息的(记录)的存储元件中直接流动,为了选择执行写入的存储单元,存储元件连接至选择晶体管以形成存储单元。

在这种情况下,在存储元件中流动的电流限于能够在选择晶体管中流动的电流(选择晶体管的饱和电流)。

为此,既然已经了解到,必须通过等于或小于选择晶体管的饱和电流的电流实行写入,并且,随着小型化的推进,晶体管的饱和电流降低,为了实施ST-MRAM的小型化,需要提高旋转转移的效率,并降低在存储元件中流动的电流。例如,自旋扭矩磁化反转所需的电流被称作反转电流或记录电流。

考虑到存储元件之间的反转电流的变化,需要设计大的选择晶体管,作为结果,可能发生容量的降低和能量消耗的增加。

此外,由于ST-MRAM为非易失性存储器,由电流所写入的信息必须被稳定地存储。即,必须确保存储层的磁化对热波动的稳定性(热稳定性)。

相应地,期待可以提供一种抑制反转电流和热稳定性的变化的作为ST-MRAM的存储元件。

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