[发明专利]低温冷漏检漏的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210147708.0 申请日: 2012-05-11
公开(公告)号: CN103389187A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 胡忠军;李青;邱一男;李强 申请(专利权)人: 中国科学院理化技术研究所
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 韩国胜
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 低温 漏检 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种低温冷漏检漏的系统,其特征在于:包括配气系统、预冷系统、冷箱、灌注系统、检漏仪、真空泵以及多个通路阀门;预冷系统、灌注系统、检漏仪、真空泵分别与冷箱相连接;其中配气系统通过预冷系统与冷箱形成预冷通路和回气通路,灌注系统与冷箱连接形成低温液体通路和高压气体通路,真空泵与冷箱连接形成抽真空通路,检漏仪与冷箱连接形成检漏通路。

2.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述预冷系统包括低温液体容器、位于低温液体容器内的换热器以及与换热器连接的回热器。

3.根据权利要求2所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述预冷系统的低温液体容器内存储着液氮或液氢。

4.根据权利要求2所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述换热器为盘管换热器。

5.根据权利要求2所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述配气系统包括气罐、与气罐连接的压缩机。

6.根据权利要求5所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述压缩机为无油式压缩机。

7.根据权利要求5所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述配气系统的气罐存储氮气或氦气。

8.根据权利要求5所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述预冷通路包括第一预冷通路和第二预冷通路;第一预冷通路依次包括气罐、通路阀门中的第一控制阀门、预冷系统中的换热器和回热器、通路阀门中的低温气体入口阀和冷箱;第二预冷通路依次包括气罐以及通路阀门中的第二控制阀门。

9.根据权利要求8所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:第二预冷通路与第一预冷通路在回热器与低温气体入口阀之间连通。

10.根据权利要求5所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述回气通路依次包括冷箱、通路阀门中的低温气体回气阀、回热器、压缩机以及气罐,并与预冷通路一起形成循环通路。

11.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述冷箱具有真空绝热夹层,并包括有指示冷箱内液体容积量的液位计。

12.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述检漏仪为氦质谱检漏仪,所述检漏通路依次包括氦质谱检漏仪、通路阀门中的检漏仪阀和检漏工艺阀以及冷箱。

13.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述抽真空通路包括第一抽真空通路,该第一抽真空通路依次包括真空泵、通路阀门中的冷箱夹层真空阀以及冷箱。

14.根据权利要求13所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述抽真空通路还包括第二抽真空通路,该第二抽真空通路依次包括所述真空泵、通路阀门中的泵切换阀和检漏工艺阀以及冷箱。

15.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述灌注系统通过低温液体通路向冷箱灌注液氮或液氢。

16.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述灌注系统通过高压气体通路向冷箱灌注高压氦气。

17.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述通路阀门包括低温液体泄流阀和与灌注系统相连的灌注阀。

18.根据权利要求1所述的低温冷漏检漏的系统,其特征在于:所述低温冷漏检漏的系统用于对待测件进行冷漏检漏,该待测件在检漏过程中设于冷箱中。

19.一种采用权利要求1-18中任一项所述的低温冷漏检漏的系统进行低温冷漏检漏的方法,其特征在于:包括如下步骤:

S1、对冷箱中的待测件进行预冷降温,达到检验冷漏的条件;

S2、向冷箱中灌注低温液体,直到液位计达到上限;

S3、将待测件抽真空;

S4、用检漏仪对待测件进行检漏。

20.如权利要求19所述的低温冷漏检漏的方法,其特征在于:在步骤S1中,包括以下步骤:

S11、由气罐流出的气体通过预冷系统进行预冷;

S12、预冷后的低温气体通过低温气体入口阀进入冷箱,对待测件进行逐步降温,直到达到检漏温度。

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