[发明专利]一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法无效
申请号: | 201210122985.6 | 申请日: | 2012-04-24 |
公开(公告)号: | CN102622531A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 赵幼虎;付桂翠;万博;陈政平 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 危害性 分析 风险 优先 门限 确定 方法 | ||
(一)技术领域
本发明涉及一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法,它致力于保证危害性分析在产品上的有效应用,精确判断出风险较高的工艺故障,属于工艺可靠性工程技术领域。
(二)背景技术
危害性分析是指对产品中的每个故障模式发生的概率及其危害程度所产生的综合影响进行分析,以全面评价产品各种可能出现的故障模式的影响。
目前工程实际中,产品的危害性分析工作主要依据GJB/Z 1391-2006《故障模式、影响及危害性分析指南》进行。标准中提出的危害性分析方法包括两种:风险优先数(RPN)法和危害性矩阵法。其中,风险优先数法需要对每一个故障模式的严酷度(S)、发生概率(O)、被检测难度(D)三个等级进行评价,三者相乘得到对应的RPN值,RPN值较高的故障模式确定为关键故障模式;危害性矩阵法则是利用失效率、工作时间等参数计算出每一个故障模式的危害度,通过作图的方法确定关键故障模式。
本专利申请所针对是风险优先数法的不足,该方法在分析的过程中主观的因素较多,尤其是方法中需要确定的RPN门限值主要通过专家讨论的方式来实现,依据不明确,且具有一定的随机性。在危害性分析方法中,RPN门限值决定了哪些故障需要作为关键故障采取改进措施,门限值确定的准确与否对整个危害性分析方法的有效实施起到举足轻重的作用。
(三)发明内容
1、目的;本发明的目的是提供一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法,该方法可操作性强,能够客观准确的确定RPN门限值,进而明确关键故障模式,提出改进措施,提高产品的工艺可靠性。
2、技术方案:
本发明一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法,该方法具体步骤如下:
步骤1:针对开展危害性分析的产品具体工艺过程,在前期工作的基础上,计算所有工艺故障模式的RPN值。
步骤2:利用直角坐标系作图的方法得到RPN顺序散点图。
步骤3:利用线性回归的方法,判断RPN顺序散点图中线性增长趋势丧失的转折点,即确定RPN门限值。
其中,步骤1中所述的“前期工作”指的是危害性分析中的工艺故障模式分析、工艺故障原因分析、工艺故障影响分析,再针对每个工艺故障模式评定对应的严酷度等级、发生概率等级和被检测难度等级。
其中,在步骤1中所述的“计算所有工艺故障模式的RPN值”,其计算公式如下:
RPN=S×O×D
式中,RPN为某个工艺故障模式的风险优先数,S为某个工艺故障模式的严酷度等级,O为某个工艺故障模式的发生概率等级,D为某个工艺故障模式的被检测难度等级。
其中,步骤2中所述的“利用直角坐标系作图的方法得到RPN顺序散点图”,是将工艺故障模式对应的不同的RPN值(相同RPN值的故障模式进行合并)按照从小到大的顺序进行排列,其对应排列序号(从1开始的自然数)为某一RPN值顺序序数。以RPN顺序序数为横轴,RPN值本身作为纵轴,做出散点图,即为RPN顺序散点图。
其中,步骤3中所述的“利用线性回归的方法,判断RPN顺序散点图中线性增长趋势丧失的转折点,即确定RPN门限值”是指从最小i个RPN顺序序数区域(一般可选择i=5~10)开始,进行线性回归并计算下一RPN数值在某一置信度下的预测区间。若第i+1个RPN数值落在预测区间以内,则将其与已回归的数值合并再次进行线性回归并计算第i+2个RPN数值的预测区间;第i+1个RPN数值落在预测区间以外,则停止计算并判断第i+1个点为线性增长趋势丧失的转折点。最终可将增长趋势丧失的转折点作为RPN门限值,即大于或等于此数值的所有故障模式都应当进行改进。
3、优点及功效:本发明提供了一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法,其优点主要有:
1)本方法在已有的工艺危害性分析方法的基础上,解决了RPN门限值难以确定或确定依据不明确的问题;
2)本方法所采取的是散点图及线性回归的方法,可以利用现有成熟方法实现,操作简单方便,利于推广。
(四)附图说明
图1为本发明实施方案流程框图。
图2为某组件工艺故障模式RPN顺序散点图。
(五)具体实施方式
下面结合具体的实施案例,对本发明所述的一种危害性分析中风险优先数门限值的确定方法进行详细说明。
案例:应用于某组件工艺过程
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