[发明专利]填充水平测量装置天线盖无效

专利信息
申请号: 201210111623.7 申请日: 2012-04-16
公开(公告)号: CN102751572A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 克劳斯·金茨勒;克里斯蒂安·萨姆;托马斯·科普 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: H01Q1/42 分类号: H01Q1/42;H01Q15/02;H01Q19/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 魏金霞;田军锋
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 填充 水平 测量 装置 天线
【权利要求书】:

1.一种适于用作透镜的填充水平测量装置天线盖(101),用于覆盖填充水平测量装置(600)的天线(100)、并用于集中由所述天线(100)发射的电磁辐射,所述盖(101)包括:

基体(102);

多个圆形翅片(103、104、105、106、107、108),所述多个圆形翅片同心地设置在所述基体(102)的内表面(114)上,所述内表面(114)在所述盖覆盖所述天线(100)时面向所述天线(100)的内部;

其中,所述翅片和所述基体由塑料材料构成。

2.如权利要求1所述的盖(101),

所述盖(101)适于用作具有凸形表面和凹形表面中的至少一个的透镜。

3.如前述权利要求中的一项所述的盖(101),其中,

所述翅片(103、104、105、106、107、108)中的至少一个具有恒定的厚度。

4.如前述权利要求中的一项所述的盖(101),其中,

所述基体(102)具有恒定的厚度。

5.如前述权利要求中的一项所述的盖(101),其中,

两个相邻的翅片(103、104)具有相同的厚度;并且

所述两个相邻的翅片(103、104)的两个相对表面之间的距离等于所述两个相邻的翅片(103、104)中的每个的厚度。

6.如权利要求4或5中的一项所述的盖(101),其中,

所述翅片(103、104、105、106、107、108)中的每个的厚度介于所述基体(102)的厚度的60%至80%之间,特别地,是所述基体(102)的厚度的70%。

7.如前述权利要求中的一项所述的盖(101),还包括:

顶柱(109),所述顶柱(109)设置在所述多个翅片(103、104、105、106、107、108)的中心。

8.如权利要求1和权利要求3至7中的一项所述的盖(101),

所述盖(101)呈圆锥形状。

9.如前述权利要求中的一项所述的盖(101),其中,

所述基体(102)和所述多个圆形翅片(103、104、105、106、107、108)是注塑成型的。

10.一种用于填充水平测量装置(600)的天线(100),包括如权利要求1至9中的一项所述的填充水平测量装置天线盖(101)。

11.一种填充水平测量装置(600),包括如权利要求10所述的天线。

12.如权利要求11所述的填充水平测量装置(600),适于用作填充水平雷达。

13.一种制造如权利要求1至9中的一项所述的填充水平测量装置天线盖(101)的方法,所述方法包括如下步骤:

注塑成型所述盖(101)。

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