[发明专利]立体扫瞄装置及其立体扫瞄方法

权利要求书

1.一种立体扫瞄装置，包含：

一光源组，用以发射一可见光束及一非可见光束；

一扫描镜元件，光学地耦合该光源组，该扫描镜元件用来反射该可见光束及该非可见光束，以使该可见光束及该非可见光束投射至一待测物体的表面并沿着一预定扫瞄轨迹移动；

一测距元件，用以接收自该待测物体的表面所反射的一非可见反射光束；以及

一颜色分析元件，用以接收自该待测物体的表面所反射的一可见反射光束。

2.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，更包含有：

一分光镜组，该光源组所发射的该可见光束及该非可见光束经由该分光镜组聚光于该扫描镜元件，以进行投射至该待测物体。

3.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，其中该测距元件更利用该扫描镜元件沿着该预定扫瞄轨迹投射该非可见光束，而取得该待测物体的一表面轮廓信息。

4.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，其中该光源组包含一红外光源或一紫外光源二者其中之一。

5.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，更包含有：

一旋转平台，用以承载并转动该待测物体，该扫描镜元件随着该旋转平台的转动，而将该可见光束及该非可见光束投射至该待测物体的不同表面。

6.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，其中该测距元件依据该非可见反射光束与该非可见光束的相位差，以计算该待测物体表面的一距离信息。

7.如权利要求1所述的立体扫瞄装置，其中该颜色分析元件依据该可见反射光束与该可见光束的彩度值，以计算该待测物体表面的一颜色信息。

8.一种立体扫瞄方法，包含步骤：

发射一可见光束及一非可见光束；

沿着一预定扫瞄轨迹将该可见光束及该非可见光束投射至一待测物体的表面；

接收自该待测物体的表面所反射的一非可见反射光束；

计算对应该待测物体表面的一距离信息；

接收自该待测物体的表面所反射的一可见反射光束；以及

计算该待测物体表面的一颜色信息。

9.如权利要求8所述的方法，更包含步骤：

将该可见光束及该非可见光束聚合成一光点后，将该光点沿着该预定扫瞄轨迹投射至该待测物体的表面。

10.如权利要求9所述的方法，更包含步骤：

沿着该预定扫瞄轨迹投射该非可见光束，以取得该待测物体的表面轮廓信息。

11.如权利要求9所述的方法，更包含步骤：

旋转该待测物体，并将该可见光束及该非可见光束投射至该待测物体的不同表面。

12.如权利要求9所述的方法，更包含步骤：

从至少二不同的位置，将该可见光束及该非可见光束投射至该待测物体的不同表面。

13.如权利要求9所述的方法，其中计算对应该待测物体表面的该距离信息包含有：

依据该非可见反射光束与该非可见光束的相位差，以计算该待测物体表面的该距离信息。

14.如权利要求9所述的方法，其中计算该待测物体表面的该颜色信息包含有：

依据该可见反射光束与该可见光束的彩度值，以计算该待测物体表面的该颜色信息。