[发明专利]测试装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路领域，尤其涉及一种测试装置及其使用方法。

背景技术

小型化电子产品如手机、数据卡等内含印刷电路板，通常需在印刷电路板上设置用于测试印刷电路板性能的测试点，以便为印刷电路板上的集成电路提供相应的测试信号和电气信号，再配合印刷电路板的测试装置实现生产上的必要测试。通常，测试点设置在印刷电路板的表面上，再通过测试装置上的测试探针与其垂直接触，以确保连接准确可靠、接触良好。测试点的形式可以有多种，可以做成通孔、盲孔等等，其形状根据实际需要，也可有多种形状，如圆形、方形等等。

一般来说，为了防止测试点表面的铜被空气中的氧气所氧化，影响印刷电路板上设置的集成电路的工作情况和测试效果，可以在测试点表面镀上一层保护膜，保护膜通常为不导电的有机物，则在测试过程中，为了保证测试的准确性，测试装置上的测试探针需先将测试点表面的保护膜刺穿，之后才能进行各项测试。

发明人在实现本发明的过程中发现，有的测试点上的保护膜较厚，在测试时不易被测试探针刺穿，造成对集成电路的性能的误测；有的测试点的保护膜的材料在测试探针测试过程中，容易粘附进而残留在测试探针头表面，在测试探针下一次测试时，影响测试效果，造成对集成电路的性能的误测。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种测试装置及其使用方法，能够较好的刺穿保护膜使得测试探针与测试点电性连接，并且能够在测试过程结束后，及时清洁测试探针头上残留的保护膜，大大地降低了对集成电路的性能的误测的概率。

为解决上述技术问题，本发明测试装置及其使用方法采用如下技术方案：

一种测试装置，包括测试探针，还包括：

应力感应模块，与所述测试探针相连，用于当感应到所述测试探针上的应力值变化时，向超声波发生模块发送启动指令；

超声波发生模块，设置于所述测试装置的测试探针架上，与所述应力感应模块相连，用于当接收到来自所述应力感应模块的启动指令时，发出超声波震动所述测试探针。

一种测试装置的使用方法，所述测试装置包括测试探针，所述方法包括：

应力感应模块感应到所述测试探针上的应力值变化时，向超声波发生模块发送启动指令；

设置于所述测试装置的测试探针架上的所述超声波发生模块接收到来自所述应力感应模块的启动指令时，发出超声波震动所述测试探针。

在本发明实施例的技术方案中，测试装置上设置有与测试探针相连的应力感应模块以及超声波发生模块，测试探针刺入保护膜时，应力感应模块感应到测试探针上的应力值变化，发出启动指令启动超声波发生模块，超声波发生模块发出超声波带动测试探针高频率震动，增大了保护膜的受力面积，有助于测试探针一次性刺破保护膜，顺利与测试点上的铜建立电性连接；另外，测试探针退出保护膜后，应力感应模块感应到测试探针上的应力值变化，发出启动指令启动超声波发生模块，超声波发生模块发出超声波带动测试探针高频率震动，附着在测试探针上的保护膜的材料等异物会脱离测试探针的表面，及时地清除了附着在测试探针上的保护膜的材料等异物，大大地降低了对集成电路的性能的误测的概率，提高了测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例中测试装置的测试情境示意图；

图3为本发明实施例中测试装置的使用方法流程图一；

图4为本发明实施例中测试装置的使用方法流程图二；

图5为本发明实施例中测试装置的使用方法流程图三。

附图标记说明：

1-测试探针；    2-测试探针架；    3-印刷电路板；

31-测试点。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

本发明实施例提供一种测试装置，包括测试探针1，如图1所示，该测试装置还包括：