[发明专利]基于FPGA的步进频率像拼接的实现方法有效
申请号: | 201210101274.0 | 申请日: | 2012-04-09 |
公开(公告)号: | CN102608600A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 曹运合;张伦;刘峥;樊友友;谢荣;陈天 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/89 | 分类号: | G01S13/89 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 fpga 步进 频率 拼接 实现 方法 | ||
1.一种基于FPGA的步进频率像拼接的实现方法,包括如下步骤:
(1)对存储在FPGA存储器中的采样值数据在相同距离门内按照脉冲顺序进行数据重排;
(2)在FPGA中调用FPGA生产商提供的的傅里叶变换硬核,通过对硬核实例化,对重排后的数据进行逆傅里叶变换IFFT处理,得到IFFT数据;
(3)在FPGA中调用FPGA生产商提供的乘法器硬核和开平方硬核,对IFFT数据求模;
(4)在FPGA中利用输入时钟信号、复位信号、信号脉冲宽度、重频、步进频率间隔、步进频率跳频点数和采样频率产生全局控制信号,该全局控制信号包括操作使能信号、模块控制信号以及有效数据信号,其中模块控制信号包括计数信号和标志信号;
(5)利用模块控制信号和操作使能信号在IFFT求模结果中,删除无效区数据;
(6)对模块控制信号延迟一个时钟,得到延迟后的计数信号和延迟后的标志信号;
(7)利用有效数据信号以及延迟后的计数信号和延迟后的标志信号,对删除无效区数据后的IFFT求模结果按距离顺序重排,得到重排后的输出数据和输出使能;
(8)利用步骤(7)中的输出使能,在FPGA中产生局部控制信号,其中局部控制信号包括局部标志信号和局部计数信号;
(9)利用操作使能信号以及局部控制信号对步骤(7)中得到的重排后的数据结果,将第m个IFFT的结果的有效数据按照距离顺序取出,放入FPGA存储器中,并与存储器中已经存在的点迹提取数列进行同距离比较,如果所取数据比存储器中所存原有点迹数据大,则用所取数据替换掉存储器中对应原有数据,得到最终的点迹拼接结果,即基于FPGA的步进频率像拼接结果,其中m表示第m个采样点。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(1)所述的对存储在FPGA存储器中的采样值数据在相同距离门内按照脉冲顺序进行数据重排,按如下步骤进行:
1a)在FPGA中调用FPGA生产商提供的计数器硬核,通过实例化的方法产生第一计数器I,计数器I每经过一个时钟的上升沿计数增加M次,其中M表示采样点数;
1b)在FPGA中调用FPGA生产商提供的计数器硬核,通过实例化的方法产生第二计数器II,计数器II每经过N个时钟上升沿计数一次,其中N是步进频率频点数;
1c)在每一个时钟上升沿,取上述两个计数器的输出结果的和作为从FPGA存储器中读取数据的地址,读取出的数据则是在同距离门内按照脉冲顺序排列。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(4)所述的在FPGA中利用输入时钟信号、复位信号、信号脉冲宽度、重频、步进频率间隔、步进频率跳频点数和采样频率产生全局控制信号,按如下步骤进行:
4a)在FPGA中调用FPGA生产商提供的计数器硬核,通过实例化的方法产生第三计数器III,利用信号脉冲宽度、重频、步进频率间隔、步进频率跳频点数和采样频率计算出操作使能信号为高电平的位置,利用计数器III的输出结果在上述位置将操作使能信号拉高,从而形成操作使能信号;
4b)在操作使能有效的情况下调用FPGA生产商提供的计数器硬核,通过实例化的方法产生第四计数器IV,从而实现M次1~N的循环计数,作为计数信号,其中M为采样点数,N为步进频率跳频点数,其中操作使能有效,是指操作使能信号是幅值为1的高电平;
4c)在操作使能有效的情况下把对M次采样点数的计数作为标志信号;
4d)在操作使能有效的情况下利用信号脉冲宽度、重频、步进频率间隔、步进频率跳频点数和采样频率计算出IFFT求模数据有效区间的起始和结束位置信息,作为有效数据信号。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(8)所述的利用步骤(7)中的输出使能,在FPGA中产生局部控制信号,按如下步骤进行:
8a)在输出使能有效的情况下,利用第三计数器III实现M次1~N的循环计数作为局部计数信号,其中M为采样点数,N为步进频率跳频点数,输出使能有效是指输出使能信号是幅值为1的高电平;
8b)在输出使能有效的情况下将对M次采样点数的计数作为局部标志信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210101274.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。