[发明专利]传感检测装置以及电子设备有效
申请号: | 201210098049.6 | 申请日: | 2012-04-05 |
公开(公告)号: | CN102727212A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 神田荣二;石黑英人;江口司;藤田彻司;山本英利 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | A61B5/117 | 分类号: | A61B5/117;G06K9/00;G06K7/10;H04N1/00;H04N1/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感 检测 装置 以及 电子设备 | ||
1.一种传感检测装置,其特征在于,具备发光部、受光部以及遮光层,并从上述发光部向对象物照射光,由上述受光部接收来自上述对象物的反射光,
上述发光部具备:发光层,其发出向上述对象物照射的照射光;第1电极,其比上述发光层靠向上述对象物侧,透过上述照射光以及上述反射光;第2电极,其比上述发光层靠向上述受光部侧,对上述照射光以及上述反射光进行遮光并形成有第1开口部;和绝缘层,其设在与上述第1开口部对应的位置,透过上述照射光以及上述反射光并使上述第1电极与上述第2电极局部绝缘;
上述受光部具备接收上述反射光的受光元件,
上述遮光层设在与上述第1开口部对应的位置,对上述照射光以及上述反射光进行遮光并形成有第2开口部,
在从上述对象物侧俯视观察的情况下,上述遮光层与上述第1开口部重合,上述受光元件的受光面位于上述第2开口部内。
2.一种传感检测装置,其特征在于,具备发光部、受光部以及遮光层,并从上述发光部向对象物照射光,由上述受光部接收来自上述对象物的反射光,
上述发光部以及上述受光部相对于上述对象物被设在相同侧,上述发光部比上述受光部靠向上述对象物侧,
上述发光部具备:发光层,其发出向上述对象物照射的照射光;第1电极,其比上述发光层靠向上述对象物侧,透过上述照射光以及上述反射光;相互分离设置的第2电极以及第3电极,该第2电极以及第3电极比上述发光层靠向上述受光部侧,对上述照射光以及上述反射光进行遮光;和绝缘层,其设在与上述第2电极和上述第3电极之间的分离区域对应的位置,透过上述照射光以及上述反射光并使上述第2电极以及上述第3电极与上述第1电极局部绝缘;
上述受光部具备接收上述反射光的受光元件,
上述遮光层设在与上述分离区域对应的位置,对上述照射光以及上述反射光进行遮光并形成有开口部,
在从上述对象物侧俯视观察的情况下,上述遮光层与上述分离区域重合,上述受光元件的受光面位于上述开口部内。
3.根据权利要求1所述的传感检测装置,其特征在于,
上述遮光层设在上述第1电极的上述对象物侧到上述第2电极之间。
4.一种传感检测装置,其特征在于,具备发光部、受光部以及多个遮光层,并从上述发光部向对象物照射光,由上述受光部接收来自上述对象物的反射光,
上述发光部以及上述受光部相对于上述对象物被设在相同侧,上述发光部比上述受光部靠向上述对象物侧,
上述发光部具备:发光层,其发出向上述对象物照射的照射光;第1电极,其比上述发光层靠向上述对象物侧,透过上述照射光以及上述反射光;相互分离设置的多个第2电极,该多个第2电极比上述发光层靠向上述受光部侧,对上述照射光以及上述反射光进行遮光;多个绝缘层,其按相邻的上述第2电极间的每个分离区域,设在与该分离区域对应的位置,透过上述照射光以及上述反射光并使上述第1电极与上述第2电极局部绝缘;
上述受光部具备接收上述反射光的多个受光元件,
上述多个遮光层分别设置在相互不同的与上述分离区域对应的位置,对上述照射光以及上述反射光进行遮光并形成有1个以上的开口部,
在从上述对象物侧俯视观察的情况下,上述分离区域分别与上述遮光层重合,上述受光元件的受光面一一对应地位于各个上述开口部内。
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