[发明专利]JTAG链路测试装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种链路测试装置及其测试方法，特别是涉及一种使用JTAG的链路测试装置及其测试方法。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(与IEEE 1149.1兼容)。所述JTAG的主要功能是对芯片及其硬件电路进行边界扫描和故障检测。标准的JTAG接口包括四个接口，所述接口分别为TMS(测试模式选择)、TCK(测试时钟)、TDI(测试数据输入)和TDO(测试数据输出)。

由于现在的硬件电路集成度更高、频率更快以及寄存器数目更大、而且总线上的外部设备也更多，所以使得对硬件的检测变得更加重要，而其对硬件的检测也更加复杂。

目前，现有的测试外围设备主要有两种方法，第一、通过软件点灯和硬件飞线的方式来验证外部设备状态；第二、通过仿真器JTAG来测试待测设备的状态。

但是这两种方法都有具有很强的局限性，其中第一种方法要求中要求最小的系统必须要正常，否则无法判断硬件链路的断路是由整个硬件电路链路断路导致还是由最小系统不能够正常工作导致。在第二种方法中则必须要采用昂贵的在线仿真器来判断整个硬件电路中的链路状态，不但检测成本很高而且还需要相关人员熟悉对应于所述在线仿真器的脚本指令。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术的链路测试装置需要最小的系统正常工作以及需要特定的在线仿真器来测试硬件电路的链路的缺陷，提供一种JTAG链路测试装置及其测试方法，通过检测硬件电路中各个芯片或设备的工作状态来确定所述硬件电路的链路的通路或断路。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

本发明提供了一种JTAG链路测试方法，用于检测硬件设备的通路状况，其特点是包括以下步骤：S₁₀₁、在一边界扫描单元中设置设备状态数据；S₁₀₂、所述边界扫描单元发送硬件设备状态扫描指令至一边界扫描寄存器；S₁₀₃、所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI口查询一硬件设备的状态；S₁₀₄、所述边界扫描寄存器通过JTAG的TDO口读取所述硬件设备的状态；S₁₀₅、所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。

较佳地，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO口读取的所述硬件设备的设备号。

较佳地，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。

本发明还提供了一种JTAG通路测试装置，用于检测硬件设备的通路状况，所述JTAG链路测试装置包括一边界扫描单元和一边界扫描寄存器；其中用户在所述边界扫描单元中设置一设备状态数据，所述边界扫描单元还输出硬件设备状态扫描指令至所述边界扫描寄存器；所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI口查询一硬件设备的状态，并通过JTAG的TDO口读取所述硬件设备的状态；所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。

较佳地，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO口读取的所述硬件设备的设备号。

较佳地，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。

本发明的积极进步效果在于：

本发明的JTAG链路测试装置及其测试方法，通过检测硬件电路中各个芯片或设备的工作状态，从而判断所述硬件电路的链路的通路或断路，所以在能够准确判断链路的通路或断路的同时，还简化了用户的操作，降低了测试的成本。

附图说明

图1为本发明的JTAG链路测试装置的较佳实施例的结构示意图。

图2为本发明的JTAG链路测试方法的较佳实施例的流程图。

具体实施方式

下面结合附图给出本发明较佳实施例，以详细说明本发明的技术方案。

实施例：

如图1所示，本实施例的所述JTAG通路测试装置中包括一边界扫描单元1和一边界扫描寄存器2，。