[发明专利]光学记录媒体以及记录材料有效
申请号: | 201210089493.1 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN103000198A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 王威翔;徐博凡;李维崇 | 申请(专利权)人: | 铼德科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/2433 | 分类号: | G11B7/2433;G11B7/2578;G11B7/2548 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹县湖*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 记录 媒体 以及 材料 | ||
1.一种用于光学记录媒体的记录材料,其特征在于,该记录材料的组成的化学式为BixGeyO(1-x-y),且该记录材料的一光学性质因一激光照射而改变,其中该化学式的x及y分别表示铋及锗的原子数比,且满足以下数学式:
2.8≤(x/y)≤25以及0.55≤(1-x-y)<0.62。
2.根据权利要求1所述的用于光学记录媒体的记录材料,其特征在于,该记录材料的消光系数为小于或等于0.3。
3.根据权利要求1所述的用于光学记录媒体的记录材料,其特征在于,该记录材料的折射率为约2.5至约3。
4.根据权利要求1所述的用于光学记录媒体的记录材料,其特征在于,该化学式的x及y满足以下数学式:0.2≤x≤0.4以及0.01≤y≤0.15。
5.一种光学记录媒体,其特征在于,包含:
一基材;以及
一记录层,配置于该基材上方,其中该记录层的消光系数小于或等于0.3,且包含以化学式BixGeyO(1-x-y)表示的一材料,其中x及y分别表示铋及锗的原子数比,且x及y满足以下数学式:2.8≤(x/y)≤25以及0.55≤(1-x-y)<0.62。
6.根据权利要求5所述的光学记录媒体,其特征在于,还包含一介电层接触该记录层,其中该介电层的折射率为约2.0至约2.5,且该记录层的折射率为约2.5至约3.0。
7.根据权利要求5所述的光学记录媒体,其特征在于,x及y满足以下数学式:0.2≤x≤0.4以及0.01≤y≤0.15。
8.一种光学记录媒体,其特征在于,包含:
一基材;
一第一保护层,配置于该基材上;
一第二保护层,配置于该第一保护层上方;
一介电层,位于该第一及该第二保护层之间,且该介电层的折射率为约2.0至约2.5;以及
一记录层接触该介电层,且该记录层的折射率为约2.5至约3.0,其中该记录层包含以化学式BixGeyO(1-x-y)表示的一材料,其中x及y分别表示铋及锗的原子数比,且x及y满足以下数学式:2.8≤(x/y)≤25以及0.55≤(1-x-y)<0.62。
9.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,该第一及该第二保护层各自的折射率为约2.0至约2.7。
10.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,该记录层的折射率与该介电层的折射率的差异为约0.25至约0.55。
11.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,至少一该第一及第二保护层包含至少一材料,是选自硫化锌、二氧化硅、氧化铬、二氧化锆、二氧化钛、五氧化二铌、五氧化二钽、氧化铟、氧化锌、二氧化锡、二氧化铈以及氧化铝所组成的群组。
12.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,该介电层包含一材料是选自硫化锌、二氧化硅、氧化铬、二氧化锆、二氧化钛、五氧化二铌、五氧化二钽、氧化铟、氧化锌、二氧化锡、二氧化铈以及氧化铝所组成的群组。
13.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,该介电层的厚度为约30nm至约40nm。
14.根据权利要求8所述的光学记录媒体,其特征在于,该记录层的厚度为约15nm至约30nm。
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