[发明专利]超声波测量方法和超声波测量系统

权利要求书

1.一种超声波测量方法，用于使用至少一组超声波传感器来测量涂敷材料的厚度，所述至少一组超声波传感器中的每一组包含由第一超声波传感器(11，211)和第二超声波传感器(12，212)组成的一对超声波传感器，当在涂敷产品的厚度方向上观察时，所述第一超声波传感器(11，211)经空气层被置于所述涂敷产品的一侧，所述第二超声波传感器(12，212)经空气层被置于所述涂敷产品的另一侧，其中，所述涂敷产品是通过将涂敷材料涂敷到基材的一个表面或两个表面地施加所述涂敷材料而形成的，所述基材由金属制成并以卷状物的形式卷绕，其中，所述涂敷材料的厚度通过在所述第一超声波传感器(11，211)与所述第二超声波传感器(12，212)之间传输超声波来测量，所述方法的特征在于：

除所述第一超声波传感器(11，211)和所述第二超声波传感器(12，212)之外，所述至少一组超声波传感器包含：至少一个实际测量超声波传感器组(10，210)，其测量所述涂敷材料(62)的厚度；校准超声波传感器组(20，220)，其包含由第一校准超声波传感器(21，221)和第二校准超声波传感器(22，222)组成的一对超声波传感器；且

所述校准超声波传感器组(20，220)在测量所述涂敷材料(62)厚度期间进行校准，所述实际测量超声波传感器组(10，210)使用由所述校准超声波传感器组(20，220)获得的测量条件值来计算所述涂敷材料(62)的厚度。

2.根据权利要求1所述的超声波测量方法，其特征在于：

将允许未聚焦的超声波的传播的扁平型超声波传感器用作所述校准超声波传感器组(20，220)的所述第一校准超声波传感器(21，221)和所述第二校准超声波传感器(22，222)；且

将允许未聚焦的超声波的传播的扁平型超声波传感器用作所述至少一个实际测量超声波传感器组(10，210)中的每一组的所述第一超声波传感器(11，211)和所述第二超声波传感器(12，212)。

3.根据权利要求1或2所述的超声波测量方法，其特征在于：

在由所述实际测量超声波传感器组(10，210)进行实际测量之前，将用于校准的基准箔片(65)置于所述校准超声波传感器组(20，220)的所述第一校准超声波传感器(21，221)和所述第二校准超声波传感器(22，222)之间，从所述第一校准超声波传感器(21，221)发送的超声波穿过所述基准箔片(65)传输，从而将预先获得的代表由所述第二校准超声波传感器(22，222)接收的超声波的第一接收信号作为所述测量条件值；且

所述实际测量超声波传感器组(10，210)获得代表在所述第一超声波传感器(11，211)和所述第二超声波传感器(12，212)之间穿过所述涂敷产品(60)传输的超声波的第二接收信号，所述涂敷材料(62)的厚度基于所述第一接收信号与所述第二接收信号的相对比值来计算。

4.根据权利要求3所述的超声波测量方法，其特征在于：

获得与所述基准箔片(65)的多个区域对应的多个第一样本接收信号，作为从所述第一校准超声波传感器(221)发送、穿过所述基准箔片(65)传输并由所述第二校准超声波传感器(222)接收的超声波的接收信号；且

所述第一接收信号基于所述多个第一样本接收信号来计算。

5.根据权利要求3或4所述的超声波测量方法，其特征在于，将所述实际测量超声波传感器组(10，210)移到放置所述基准箔片(65)的位置，所述实际测量超声波传感器组(10，210)获得第三接收信号，所述第三接收信号代表从所述第一超声波传感器(11，211)发送、穿过所述基准箔片(65)传输并由所述第二超声波传感器(12，212)接收的超声波。

6.根据权利要求5所述的超声波测量方法，其特征在于：

获得与所述基准箔片(65)的多个区域对应的多个第三样本接收信号，作为从所述第一超声波传感器(221)发送、穿过所述基准箔片(65)传输并由所述第二超声波传感器(222)接收的超声波的接收信号；且

所述第三接收信号基于所述多个第三样本接收信号来计算。

7.根据权利要求1至6中任一项的超声波测量方法，其特征在于，所述第一校准超声波传感器(21，221)与所述第二校准超声波传感器(22，222)、所述第一超声波传感器(11，211)与所述第二超声波传感器(12，212)彼此同步地发送和接收超声波。