[发明专利]对象检测分类器生成方法和设备、图像对象检测方法和设备

权利要求书

1.一种用于生成图像区域中的二单元结构的二单元结构特征描述符的方法，一个所述二单元结构由一个中心单元和一个相邻单元构成，所述相邻单元是所述图像区域中包围所述中心单元并且与所述中心单元相邻的八个单元之一，该方法包括：

计算步骤，用于分别计算中心单元和相邻单元中的梯度统计值。

比较步骤，用于比较所计算的中心单元和相邻单元中的梯度统计值，以便获得用于描述二单元结构的特征的二单元结构特征描述符，

其中，所述二单元结构特征描述符是1比特二进制值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，二单元结构的所述中心单元和所述相邻单元具有相同或不同的宽高比。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述梯度统计值是单元中计算的梯度方向直方图中的一个区段的值。

4.一种对于至少一个图像区域生成对象检测分类器的方法，其中所述至少一个图像区域中的每个图像区域包含至少一个二单元结构，并且每个二单元结构由一中心单元和一相邻单元构成，该相邻单元是该图像区域中的围绕该中心单元的并且与该中心单元相邻的八个单元之一，该方法包括：

特征空间计算步骤，用于通过将根据权利要求1的方法应用于该至少一个图像区域中的每个图像区域所包含的至少一个二单元结构中的每一个二单元结构，计算特征空间；以及

生成步骤，用于基于所计算的特征空间生成对象检测分类器。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述生成步骤进一步包括：

确定步骤，用于使用启发式算法对于至少一个图像区域基于所计算的特征空间来确定至少一个特定单元结构特征中的每一个，其中该特定单元结构特征是N比特二进制值，N对应于构成该特定单元结构特征的二单元结构特征描述符的数量，并且该N比特二进制值中的每个比特的值对应于该特定单元结构特征中包含的N个二单元结构特征描述符之一，

其中该对象检测分类器由该至少一个特定单元结构特征生成；以及

其中，N大于等于1。

6.根据权利要求5所述的方法，其中N＝4，并且所述确定步骤进一步包括：

二单元结构特征选择步骤，用于从所计算出的特征空间中选择具有低训练误差的第一数量的二单元结构特征描述符；

三单元结构特征生成步骤，用于从所选择的第一数量的二单元结构特征描述符生成具有低训练误差的第二数量的三单元结构特征，以及

特定单元结构特征确定步骤，用于基于该第二数量的三单元结构特征确定特定单元结构特征。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述三单元结构特征生成步骤进一步包括：

三单元结构特征计算步骤，用于从所选择的第一数量的二单元结构特征描述符中的两个二单元结构特征描述符计算三单元结构特征，由此获得多个三单元结构特征，所述两个二单元结构特征描述符分别对应于两个不同的二单元结构，所述两个不同的二单元结构具有相同的中心单元以及不同的相邻单元，

其中，所述多个三单元结构特征中的每一个是2比特二进制值，每个比特对应于用于计算所述三单元结构特征的二单元结构特征描述符之一，以及

其中，所述具有低训练误差的第二数量的三单元结构特征被从所述多个三单元结构特征中选择。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述特定单元结构特征确定步骤进一步包括：

三单元结构特征组合步骤，用于组合所述第二数量的三单元结构特征中所包含的任两个三单元结构特征以获得多个组合单元结构特征，其中，一个组合单元结构特征是4比特二进制值，每一比特对应于相应的两个三单元结构特征中的一个所包含的两个二单元结构特征描述符中的一个，以及

选择步骤，用于选择该多个组合单元结构特征中的具有最低训练误差的组合单元结构特征作为该特定单元结构特征。

9.一种检测图像区域中的对象的方法，包括：

输入步骤，用于输入要被检测的图像区域；以及

检测步骤，用于通过应用根据权利要求4的方法生成的对象检测分类器来检测该图像区域中是否存在要被检测的对象。