[发明专利]一种光学元件各向异性检测装置有效
申请号: | 201210084675.X | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN102607814A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 张书练;陈文学 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐宁;关畅 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 元件 各向异性 检测 装置 | ||
1.一种光学元件各向异性检测装置,它包括激光器、回馈外腔、信号控制系统和信号处理系统,所述激光器包括激光增益管,所述激光增益管的轴线左侧设置内腔凹面反射镜,所述激光增益管的轴线右侧依次设置有增透窗片和外腔平面反射镜,所述外腔平面反射镜与设置在所述外腔平面反射镜右侧的回馈镜构成所述回馈外腔;其特征在于:它还包括一加力元件,所述加力元件的周向设置有一个以上的螺纹孔,所述加力元件通过螺钉穿过所述螺纹孔顶设在所述增透窗片上。
2.如权利要求1所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:所述加力元件的形状根据所述增透窗片的形状确定。
3.如权利要求1所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:所述加力元件采用变形小的金属材料制作而成。
4.如权利要求2所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:所述加力元件采用变形小的金属材料制作而成。
5.如权利要求1或2或3或4所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:所述信号控制系统包括固定设置在所述回馈镜外侧的压电陶瓷和控制所述压电陶瓷伸缩运动的驱动电路;所述信号处理系统包括一偏振片、两探测器、一采集模块和一信号处理模块,所述偏振片设置在所述信号控制系统的压电陶瓷的出光方向,两所述探测器分别设置在所述内腔凹面反射镜和偏振片的出射激光的方向探测激光光强信号和激光偏振态信号,所述采集模块分别控制两所述探测器将采集的激光光强信号和激光偏振态信号发送到所述信号处理模块,所述信号处理模块对激光光强信号和激光偏振态信号进行计算得到待测的光学元件各向异性的大小。
6.如权利要求5所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:两所述探测器的输出端分别连接有一示波器,用于显示激光的光强信号和激光的偏振态信号。
7.如权利要求1或2或3或4或6所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:测量时,待测的光学元件放置在所述回馈外腔的外腔平面反射镜与所述回馈镜之间。
8.如权利要求5所述的一种光学元件各向异性检测装置,其特征在于:测量时,待测的光学元件放置在所述回馈外腔的外腔平面反射镜与所述回馈镜之间。
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