[发明专利]砷化镓表面化学腐蚀方法和化学腐蚀液有效
申请号: | 201210076407.3 | 申请日: | 2012-03-21 |
公开(公告)号: | CN102618936A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 王晓文;班冬青;赵波;刘丽杰;刘文森 | 申请(专利权)人: | 北京通美晶体技术有限公司 |
主分类号: | C30B33/10 | 分类号: | C30B33/10 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王朋飞;王加岭 |
地址: | 101113 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 砷化镓 表面 化学 腐蚀 方法 | ||
1.一种对砷化镓晶片进行化学腐蚀的方法,包括以下步骤:
1)将砷化镓晶片使用金属清洗剂浸洗;
2)在氨水中浸洗;
3)将砷化镓晶片放入化学腐蚀液中,在10~40℃的温度下腐蚀晶片表面;
4)以去离子水冲洗晶片表面;
5)干燥晶片。
2.如权利要求1所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤1)的金属清洗剂为碱性金属清洗剂水溶液,其质量浓度为10~50%,浸洗的时间为20~30分钟,浸洗的温度为60~70℃。
3.如权利要求1所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤2)使用质量浓度为5~20%的氨水溶液,浸泡时间5~10分钟后,使用去离子水冲洗。
4.如权利要求1所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤3)的腐蚀温度为25~35℃;腐蚀时间为3秒至1分钟。
5.如权利要求1~4任一所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤3)的整个过程中所述化学腐蚀液相对于砷化镓晶片表面流动;所述步骤3)之后以去离子水冲洗晶片表面。
6.如权利要求1~4任一所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤4)使用去离子水溢流漂洗与快排冲水相结合的方式冲洗晶片表面,冲洗时间为10秒至5分钟。
7.如权利要求1~4任一所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤4)之后再加以手动冲水的操作。
8.如权利要求1~4任一所述的化学腐蚀的方法,其特征在于,所述步骤5)的干燥,是在40~60℃温度下干燥30~60秒。
9.一种用于权利要求1~8任一所述对砷化镓晶片进行化学腐蚀的化学腐蚀液,由质量含量3.2~20%的氨水、8.3~33.0%的双氧水和水组成。
10.如权利要求9所述的化学腐蚀液,其特征在于,是由质量含量10.0~20.0%的氨水、20~33.0%的双氧水和水组成。
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