[发明专利]过压容限电平检测电路、其操作方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210073669.4 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN102692539A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 格雷戈里·A·马赫尔 申请(专利权)人: 快捷半导体(苏州)有限公司;快捷半导体公司
主分类号: G01R15/14 分类号: G01R15/14
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 武晨燕;张颖玲
地址: 215021 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 容限 电平 检测 电路 操作方法 系统
【说明书】:

技术领域

本主题包括针对检测电路的装置和方法,具体地说,针对过压容限检测电路的装置和方法。

背景技术

随着移动电子设备变得越来越普及以及设备功能的扩展,设计者已经实现了提供更好用户体验的功能(feature)。对所附接的附件设备进行自动识别是众多此类功能中的一个。然而,为了实现这些功能,可能需要消耗大量的功率并且可能对附件敏感的检测电路,该附件会使该电路遭受到远高于移动设备可以承受的电压的电压。

发明内容

本文尤其讨论了一种检测电路、一种操作检测电路的方法和一种系统。在一个示例中,检测电路可以包括分压器,其被配置为从连接到所述检测电路的外部设备接收第一电源电压,第一晶体管和第二晶体管,其被配置为从所述分压器接收控制电压并且当所述控制电压超过第一阈值时将输出端连接到地,以及偏置电路,其被配置为对所述第一晶体管进行偏置以设置所述第一阈值。

在一个示例中,操作检测电路的方法包括:从与检测电路的分压器相连接的外部设备接收电源电压;第一晶体管的控制节点处和第二晶体管的控制节点处从所述分压器接收控制电压,所述第一晶体管和所述第二晶体管串联连接在所述检测电路的输出端和地之间;当所述控制电压超过第一阈值时,将所述输出端连接到地;以及对所述第一晶体管和所述第二晶体管进行偏置以设置所述第一阈值。

在一个示例中,系统包括端口、连接到所述端口的开关以及如上所述的检测电路。

本发明内容旨在提供对本专利申请的主题的概述,而并非旨在提供对本发明的排他性或穷尽性解释。本发明包括具体实施方式以提供与本专利申请有关的其它信息。

附图说明

在附图(其不一定按比例绘制)中,相似的数字可以描述不同视图中的类似部件。具有不同字母后缀的相似数字可以表示类似部件的不同例子。附图以举例说明而非限制的方式大体地示出了本文中讨论的各个示例。

图1大体示出了根据本主题的示例性检测电路。

图2大体示出了诸如图1中所示的示例之类的检测电路的输出的图形。

图3大体示出了诸如图1中所示的示例之类的检测电路的瞬时波形。

图4大体示出了设定点电阻与输入电压的关系,该输入电压将触发检测电路(例如,图1的示例性电路)的输出的转换。

具体实施方式

包括便携式电子设备在内的电子设备可以包括用于接纳扩展或增强该电子设备的附件设备的端口。这些端口可以包括但不限于例如通用串行总线(USB)端口。这些端口可以包括向附件设备提供功率或者从附件设备接收功率的电源端子。一些设备可以包括允许连接各种不同的附件设备的端口。一些电子设备包括检测电路,所述检测电路用于识别附件或附件的工作状况,所述工作状况例如是与附件端口的电源线或其它端子相连接的外部电压。检测电路可以是有源的,并且即使在附件设备不存在时也消耗功率。对于可以具有受限电源的便携式电子设备而言,此类电路可能会减少设备在给受限电源进行充电或替换受限电源之间的可用间隔。检测电路可以包括更昂贵的高压部件以接纳可以连接到附件端口的各种不同的附件设备。

图1大体示出了示例性的检测电路100。在一个示例中,检测电路100可以包括输出端105,所述输出端105被配置为提供设备被连接到输入端101的指示。在某些示例中,检测电路100可以由诸如蜂窝电话或个人媒体播放器之类的移动电子系统使用。在一些示例中,输入端101可以包括诸如通用串行总线(USB)连接器之类的通信连接器的一部分。在某些示例中,输入端101可以包括通信连接器的电源端子,例如USB连接器的VBUS端子。在一个示例中,输出端105可以指示输入端101上存在的最小阈值电压。

检测电路100可以包括分压器102。分压器102可以包括抽头,所述抽头可以连接到第一晶体管103和第二晶体管104的控制节点。第一晶体管103和第二晶体管104可以串联连接在输出端105和参考电压(例如,地)之间。在一个示例中,输出端105可以连接到上拉电阻106。

检测电路100可以包括偏置电路107。偏置电路107可以包括设定点电阻108和偏置开关109(例如,晶体管)。检测电路100可以检测施加于输入端101的电压电平,在不使用高压部件的情况下,所述电压电平最高为特定工艺的栅氧化层额定值的约四倍,该特定工艺可以是例如制造第一晶体管103和第二晶体管104所使用的工艺。检测电路100可以被配置为使用连接到输入端101的外部电源电压作为电源(power),使得当附件未被连接到输入端时,检测电路100基本上不消耗功率。

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